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邢建辉
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- 所属机构:西门子中国研究院
- 所在地区:北京市
- 研究方向:电子电信
- 发文基金:国家自然科学基金
相关作者
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- 王红成本茂杨士元邢建辉
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- 邢建辉王红杨士元成本茂
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- 薛月菊王红杨士元邢建辉邓雨春
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- 邢建辉王红杨士元牛道恒
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- 以复用为基础,通过测试访问机制(TAM,TestAccessMechanism)实现对深嵌在SOC(SystemOnChip)内部的IP核(In鄄tellectualProperty,知识产权模块)的测试,是解决SOC测试的根本方法。本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制:(1)直接测试访问,(2)基于总线的测试访问机制,(3)基于透明模型的访问机制等。分析它们的特点,探讨面临的主要问题。
- 王红邢建辉杨士元
- 关键词：SOCIP核测试访问机制复用
