国家高技术研究发展计划(2007AA01Z113)
- 作品数：4 被引量：7H指数：2
- 相关作者：李晓维韩银和方芳王伟王伟更多>>
- 相关机构：合肥工业大学中国科学院中国科学院研究生院更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- 低功耗测试研究进展被引量：2
- 2009年
- 随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明。
- 方芳王伟王伟王杰陈田
- 关键词：测试功耗低功耗芯片设计
- 一种基于三模冗余令牌的自恢复控制器
- 2009年
- 针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结构,并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明,该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果。
- 孙科梁华国黄正峰王伟
- 关键词：自恢复三模冗余令牌
- 热量敏感的众核芯片多播并行测试方法被引量：3
- 2010年
- 为了解决芯片测试过程中功耗密度大造成的局部过热(简称"热斑")问题,提出一种热量敏感的多播并行测试方法.对众核芯片采用多播并行测试时面临的"热斑"问题进行分析,提出一种无"热斑"的多播测试路径生成算法;在温度容限内对生成的多条单类同构芯核多播测试路径进行并行优化,形成无"热斑"的快速并行测试方案,同时缩短了测试时间.实验结果表明,采用文中方法能够有效地避免多播并行测试时的"热斑",并使测试时间缩短近45%.
- 方芳韩银和李晓维
- 关键词：并行测试多播技术热斑
- 动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法被引量：2
- 2010年
- 为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切片相容时,提出了有选择的相容合并策略,以进一步提高压缩率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法具有更高的测试压缩率.
- 刘军韩银和李晓维
- 关键词：测试数据压缩压缩率
- 一种确定性扫描链故障诊断向量的生成方法
- 扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段。由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,扫描链故障导致的失效可能会占到失效总数的50%,因此本文提出了一种确定性扫描链诊断向量...
- 王飞胡瑜李晓维
- 关键词：集成电路测试扫描链故障诊断
- 文献传递
