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国家自然科学基金(61073035)

作品数:5 被引量:11H指数:2
相关作者:王子龙涂吉李立健郑美松更多>>
相关机构:中国科学院自动化研究所中国科学院大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 6篇自动化与计算...

主题

  • 2篇冗余
  • 2篇自测试
  • 2篇内建自测试
  • 2篇聚类
  • 2篇BIST
  • 2篇FPGA
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇动态数据
  • 1篇动态数据结构
  • 1篇选择性
  • 1篇遗传算法
  • 1篇容错
  • 1篇三模
  • 1篇三模冗余
  • 1篇数据结构
  • 1篇数据生成
  • 1篇双模冗余
  • 1篇贪心
  • 1篇贪心算法

机构

  • 4篇中国科学院自...
  • 2篇北京化工大学
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 4篇李立健
  • 4篇涂吉
  • 4篇王子龙
  • 2篇赵瑞莲
  • 2篇郑美松
  • 1篇尤枫
  • 1篇王倩
  • 1篇王晓峰

传媒

  • 3篇计算机辅助设...
  • 1篇计算机科学

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2011
5 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
面向对象软件和EFSM规范测试覆盖准则比较
测试覆盖准则是软件测试的一个重要组成部分。目前己有的覆盖准则研究,大多从程序代码或者规范出发,很少将两者结合起来考虑。另外,面向对象软件和EFSM(扩展有限状态机)规范应用越来越广泛。为此,本文从面向对象程序代码和EFS...
王晓峰赵瑞莲
关键词:面向对象程序测试覆盖准则
文献传递
SRAM型FPGA的基于可观性度量的选择性三模冗余方法被引量:3
2015年
为了增强SRAM型FPGA抗单粒子翻转破坏的能力并减少硬件开销,提出一种面向查找表的基于可观性度量的选择性三模冗余方法.首先定义查找表发生单粒子翻转(SEU)故障的一种可观性概念,并结合概念给出理论计算公式;然后根据计算出的查找表可观性分布筛选出SEU敏感查找表;最后插入相应的冗余电路.此方法能够以较小的冗余比例,使得电路的抗SEU性能接近全三模冗余的效果.对MCNC’91的18个规模不同的电路进行实验的结果表明,文中方法平均只需要冗余37%的查找表,并且冗余后电路的抗SEU性能为92.6%,相比全三模冗余节省了63%的硬件开销,说明该方法能够在有效地提高电路的抗SEU性能前提下取得显著的硬件节省效果.
王子龙郑美松涂吉王骏也李立健
关键词:FPGA三模冗余单粒子翻转可观性
一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法
2014年
提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法。对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中。为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩。实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试。
涂吉王子龙李立健
关键词:内建自测试
可编程器件的选择性双模冗余加固方法被引量:1
2016年
针对现有FPGA加固方法开销过大的问题,提出一种利用逻辑门对故障的屏蔽效应进行选择性加固的双模冗余方法.首先建立待加固电路的查找表结构模型,根据故障的传播概率按电路结构依次计算每个查找表的故障敏感度;然后将故障敏感度高的查找表进行双模冗余,并根据要屏蔽的故障类型在冗余后的查找表输出端添加"与","或"逻辑进行表决;最后对加固后的电路进行故障注入,验证加固效果.对MCNC测试集电路的实验结果表明,与现有方法相比,在同等开销下,文中方法对故障的屏蔽效果更显著;全冗余时,该方法可将故障平均减少84.3%,对于apex2,spla等大电路则能减少超过97%.
郑美松王子龙涂吉王骏也李立健
关键词:FPGA容错双模冗余
BIST测试激励的聚类压缩方法被引量:2
2014年
测试激励压缩方案能减少内建自测试(BIST)电路的存储硬件开销,适合超大规模集成电路的测试.将聚类压缩与循环移位压缩和输入精简压缩巧妙结合,提出一种针对BIST的测试激励聚类压缩方法.首先将难测向量进行x方向输入精简;然后以贪心选择的方法进行y方向聚类压缩,即将测试向量集划分成几个子集,每个子集只存储一个种子向量;最后将聚类后的种子向量集进行z方向移位压缩,将最终的种子向量存储到BIST电路中.测试时,解压电路通过对种子向量进行解压得到全部的难测向量.理论分析和实验结果表明,通过增加相对很少的硬件开销构建聚类移位输入精简解压电路能够产生较高的测试数据压缩率,减少测试向量存储单元,且能以芯片频率进行测试,其中对电路s38584的压缩率高达99.87%.
涂吉王子龙李立健
关键词:内建自测试贪心算法
一种二叉树结构型测试数据自动生成方法
目前关于测试数据自动生成的研究主要集中于数值和字符串型数据,对于指针和动态数据结构的测试生成研究较少。二叉树是一种广泛使用并具有代表性的动态数据结构,因此,针对二叉树结构,提出了一种基于concolic的二叉树结构型测试...
王倩尤枫赵瑞莲
关键词:测试数据生成动态数据结构二叉树遗传算法
文献传递
共1页<1>
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