2024年10月13日
星期日
|
欢迎来到叙永县图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
浙江省科技计划项目(2007C31011)
作品数:
3
被引量:4
H指数:1
相关作者:
马琪
竺红卫
裘燕锋
卜士喜
陶丽芳
更多>>
相关机构:
杭州电子科技大学
浙江大学
更多>>
发文基金:
浙江省科技计划项目
更多>>
相关领域:
自动化与计算机技术
电气工程
更多>>
相关作品
相关人物
相关机构
相关资助
相关领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
3篇
中文期刊文章
领域
2篇
自动化与计算...
1篇
电气工程
主题
1篇
电路
1篇
信号
1篇
信号处理
1篇
数字信号
1篇
数字信号处理
1篇
自测试
1篇
内建自测试
1篇
集成电路
1篇
故障诊断
1篇
故障诊断技术
1篇
SRAM
1篇
MB
机构
2篇
杭州电子科技...
2篇
浙江大学
作者
2篇
竺红卫
2篇
马琪
1篇
裘燕锋
1篇
陶丽芳
1篇
卜士喜
传媒
1篇
计算机研究与...
1篇
计算机工程
1篇
现代电子技术
年份
2篇
2010
1篇
2009
共
3
条 记 录,以下是 1-3
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
基于扫描的集成电路故障诊断技术
被引量:1
2009年
随着集成电路技术的飞速发展,人们对集成电路产品的可靠性要求越来越高,这就要求集成电路测试特别是故障诊断提出了更高的要求。基于扫描的故障诊断方法是广泛应用的故障诊断方法之一。介绍基于扫描的集成电路故障诊断方法,并详细介绍了一种改进的扫描诊断方法和一种基于扫描的全速诊断方法。
陶丽芳
马琪
竺红卫
关键词:
故障诊断
片上SRAM内建自测试的实现方法
被引量:2
2010年
存储器内建自测试(MBIST)技术是目前芯片嵌入式存储器测试的最通用方法.介绍了基于自编RTL和基于Synopsys Rambist EDA技术的两种片上SRAM BIST电路方法.
马琪
裘燕锋
关键词:
内建自测试
软件SIMD的研究及应用
被引量:1
2010年
介绍软件SIMD技术,在不支持SIMD架构的处理器上使用该技术实现寄存器高低字节的并行运算,提高处理器的速度。软件SIMD包括基本的加减法运算、乘法运算和点积运算。在现有研究的基础上,解决包含负数的点积运算、复数运算中应用软件SIMD技术的问题,使其能广泛应用于数字信号处理等领域。
卜士喜
竺红卫
关键词:
数字信号处理
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张