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国家质检总局科技计划项目(D00RJ0704)

作品数:2 被引量:7H指数:2
相关作者:傅云霞李源傅星邹子英栗大超更多>>
相关机构:上海市计量测试技术研究院天津大学更多>>
发文基金:国家质检总局科技计划项目更多>>
相关领域:机械工程一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇纳米测量机
  • 2篇测量机
  • 1篇微机电系统
  • 1篇纳米
  • 1篇机电系统
  • 1篇MEMS
  • 1篇尺寸测量
  • 1篇电系统

机构

  • 2篇上海市计量测...
  • 1篇天津大学

作者

  • 2篇李源
  • 2篇傅云霞
  • 1篇胡小唐
  • 1篇栗大超
  • 1篇谢初南
  • 1篇邹子英
  • 1篇傅星

传媒

  • 1篇传感技术学报
  • 1篇电子测量与仪...

年份

  • 2篇2008
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
激光聚集方法在纳米计量领域的应用被引量:3
2008年
本文主要描述激光聚焦方法在纳米计量领域的应用。利用该方法在纳米测量机平台上对各种标准台阶进行测量验证,并对测量过程中对结果造成影响的因素做出不确定度分析,测量结果通过En评估法与国际计量机构(如PTB和NIST)提供的标准值比对后得出所有En比对值均低0.5,从而证实该方法对台阶测量是非常有效的。
谢初南傅云霞李源
关键词:纳米测量机
基于MEMS微触觉测头和纳米测量机的特征尺寸测量被引量:4
2008年
针对微小结构几何量测量的需求,通过集成MEMS微触觉测头和纳米测量机构建了高精度的测量系统。在验证测头性能的基础上,完成了一系列判断测头测量分辨力和精度的实验,在轴向、同向横向、异向横向三个方向测量的标准偏差分别为41.7552nm,6.05μm,6.16μm,同时,在扫描实验中进程回程扫描差值的标准偏差为23.088nm。
李源邹子英傅云霞傅星栗大超胡小唐
关键词:微机电系统尺寸测量纳米测量机
共1页<1>
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