河北省科技支撑计划项目(10212113D)
- 作品数：1 被引量：1H指数：1
- 相关作者：刘慧丽李志阔魏泽鼎更多>>
- 相关机构：深州市职教中心河北科技大学更多>>
- 发文基金：河北省科技支撑计划项目更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 干法测量电子元件引线的可焊性被引量：1
- 2011年
- 针对传统方法检测电子元件引线可焊性的缺点,提出了一种干法测量方法。电子元件引线镀层表面的金属氧化物是影响可焊性的主要因素,金属氧化物具有介于绝缘体和半导体之间的物理特性,它的击穿电压和氧化程度成正相关的关系。实验证明:击穿电压低于3V时,焊接性能很好,随着击穿电压升高,焊接性能恶化,超过40V,完全丧失可焊性。因此可以通过测量元件引线金属氧化物的击穿电压,判断其氧化程度,进而对元件引线的可焊性进行量化评估。同时,指出了干法测量的关键问题,给出了一种测量元件引线击穿电压的实现方案。
- 魏泽鼎李志阔刘慧丽
- 关键词：可焊性金属氧化物击穿电压
