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国家自然科学基金(61204111)

作品数：9 被引量：6H指数：2
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文献类型

  • 9篇中文期刊文章

领域

  • 9篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇开发包
  • 2篇集成电路
  • 2篇超大规模集成
  • 2篇超大规模集成...
  • 2篇大规模集成电...
  • 1篇代价函数
  • 1篇点对点
  • 1篇电子设计
  • 1篇电子设计自动...
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  • 1篇多线程
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  • 1篇虚拟机
  • 1篇寻址
  • 1篇设计方法
  • 1篇设计自动化
  • 1篇生命周期
  • 1篇数据设计
  • 1篇算子

机构

  • 9篇浙江大学

作者

  • 7篇史峥
  • 2篇刘得金
  • 2篇张培勇
  • 2篇李春强
  • 2篇胡龙跃
  • 2篇张腾
  • 2篇邵康鹏
  • 2篇廖海涛
  • 1篇卢永江
  • 1篇耿臻
  • 1篇罗凯升
  • 1篇金跃
  • 1篇吕楠

传媒

  • 5篇计算机工程
  • 1篇机电工程
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇计算机科学
  • 1篇传感器与微系...

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 5篇2014
  • 2篇2013
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
可寻址测试芯片测试结构自动分配算法研究被引量：1
2013年
为了缓解由于可寻址测试芯片自动化设计方法的缺失所带来的设计效率低下、设计稳定性不足等问题,针对可寻址测试芯片设计过程中的测试结构分配环节,将线性规划应用到测试结构的自动分配算法中。通过整理现有的手动分配测试结构的方法,得到了一套测试结构分配的基本规则;同时,将这些分配规则转换为多元一次不等式的数学表述,从而构建了针对测试结构分配环节、基于线性规划的数学模型,根据该数学模型,可以发展出一个自动分配器以快速、自动地解决可寻址测试芯片的测试结构分配问题。研究结果表明,基于线性规划的自动分配器可以在数分钟内完成上千个测试结构的自动分配;同时,自动分配器会在考虑各种测试结构分配的基本规则的前提下,在测试单元空间利用率上得到一个最优化组合方案。
邵康鹏史峥张培勇
关键词：线性规划
基于Trace合并和寄存器分配的Dalvik优化
2014年
Dalvik虚拟机作为Android系统上运行所有应用程序的基础,其性能瓶颈一直制约着Android系统的用户体验。通过研究Android系统中的Dalvik架构,分析其解释器和JIT模块的工作原理,发现热Trace选择过程中短Trace编译损耗大以及即时编译过程中寄存器分配不合理的情况。结合Java虚拟机技术和编译器技术,在现有热Trace选择和寄存器分配机制的基础上,提出基于Trace合并和寄存器分配的优化算法,在国产高性能嵌入式CPU CSKY体系下移植Dalvik虚拟机并实现了上述优化算法。通过实验证明优化后Dalvik执行Java程序的性能提高了近10%。
余超君李春强尚云海张培勇
关键词：DALVIK虚拟机JIT技术寄存器分配生命周期
基于边界扩张的点对点布线新算法
2014年
在超大规模集成电路设计中，全局布线是非常重要的步骤。工业界普遍采用经典的迷宫算法及其改进算法解决全局布线问题。随着工艺节点的减小，传统迷宫算法复杂度高的缺点越来越明显。针对传统迷宫算法的复杂度会随着布线规模的扩大而迅速增加的问题，借助于边界扩张的概念，提出一种新的点对点布线路径的搜索算法。摒弃了迷宫算法低效率的逐个节点扩张的思想，通过自由节点的定义对节点边界进行迅速扩张并不断地找到新的自由节点，直到找出路径或确定无解时结束。将该算法与经典的布线算法进行理论和实验比较，结果表明在大多数情况下该算法使用经典算法7%~14%的运行时间即可完成路径搜索。
廖海涛史峥张腾
关键词：超大规模集成电路
高效率集成电路测试芯片设计方法被引量：2
2013年
对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
胡龙跃史峥刘得金邵康鹏
关键词：超大规模集成电路
用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程
2014年
在工艺开发包的验证过程中,需要手动地在版图编辑器中对参数化单元进行实例化和摆放绕线,由此产生大量测试芯片。为此,提出一种用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程,采用软件接口产生Skill脚本和工艺开发包交互,以获取工艺开发包的信息、发送命令对工艺开发包进行操作的方法,能自动地对参数化单元予以实例化,自动地摆放绕线,并实现测试芯片版图的布局规划。用该软件接口针对某代工厂的40 nm半导体工艺开发包开发一套测试芯片,产生一条测试芯片的平均时间为5.2 s左右,结果证明该方法是有效的,能缩短工艺开发包的验证时间。
刘得金史峥胡龙跃
关键词：可制造性设计电子设计自动化
考虑缺陷率模型的多项目晶圆布图规划算法被引量：1
2014年
针对随机缺陷会降低多项目晶圆实际产出的问题,提出一种新的多项目晶圆布图规划算法。通过在布图规划中引入缺陷率模型的方法,增加芯片产量的裕量,降低因随机缺陷造成的产量损失。同时优化模拟退火流程,使得在布图尺寸约束条件下,布图规划过程能够跳出局部最优解陷阱。对工业实例进行布图规划的结果表明,该算法能够接受不满足布图尺寸约束条件的中间结果,从而遍历解空间,得到全局最优的布图,并且相对已有算法,使用相同数量晶圆进行切割时,算法的布图结果增加了137%的芯片产量的总裕量,同时,降低了25%的工作芯片所需要生产的晶圆数量。
张腾史峥廖海涛
关键词：多项目晶圆布图规划模拟退火算法代价函数
HL-TLS:支持热点的线程级猜测编译实现
2015年
猜测并行化编译,即线程级猜测(TLS)编译,可将原来顺序运行的程序并行化。但由于猜测数据的不确定性引起的数据管理开销过大,以及猜测线程失败引起的线程回滚开销,使得并行后的执行性能较低。针对上述问题,提出一种HL-TLS并行化编译优化框架。HL-TLS能有效地标记并行化的循环体为热点循环体,采用对最高层次热点循环体进行更激进的并行化的方式提高性能,而对非热点循环体采用保守的顺序执行以减少开销。实验结果表明,使用HL-TLS编译优化框架,实验程序的执行效率可以提高20%。
金跃李春强尚云海卢永江
关键词：并行计算多线程
用于光刻系统仿真的多边形处理算法
2014年
为提高光刻仿真效率,通过对光刻原理进行研究,提出了2种多边形处理算法,将掩模上的多边形图案进行切分优化,将其划分成若干矩形或三角形。在Linux环境下应用C语言设计出一个完整的光刻仿真系统,设计的具体光学参数为:光源波长为193nm,数值孔径为0.3~0.8,部分相干系数可调范围为0.2~0.8,可一次性仿真1μm×1μm到10μm×10μm范围内的45 nm^0.18μm工艺的复杂版图,并通过多次实验进行验证。实验结果表明:原版图图像的边缘细节得到保留,且该算法有效地减少了光刻模拟的计算复杂度与计算时间,整体效率提升20%以上,为当前智能传感器系统芯片的制造节省了宝贵时间。
吕楠史峥罗凯升耿臻
关键词：传感器光刻仿真光学邻近效应
一种基于梯度信息的SEM图像重建方法被引量：2
2016年
针对集成电路制造过程中由扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)产生的灰度图像二值化问题,提出一种利用图像边缘的梯度信息、通过统计重建SEM图像的方法。用Otsu方法分析SEM图像的噪声组成,通过滤波去噪过程,用Kirsch算子分析图像的梯度信息,再利用图像外边缘的梯度大于内边缘的梯度的特性,对每一个区域进行分类统计,根据统计信息进行最后的图像填充。实验结果表明,该算法在高分辨率的图像下显示出了高稳定性和高度自动化;在低分辨率的图像下,该方法有效避免了边缘提取失败带来的影响,能正确、完整地重建图像。
毛项迪史峥
关键词：梯度信息KIRSCH算子二值化
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