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国家科技重大专项(2009ZX02023-004-1)

作品数:3 被引量:5H指数:1
相关作者:欧阳冬生冯忱晖张培勇项群良潘伟伟更多>>
相关机构:浙江大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家科技重大专项浙江省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇掩模
  • 1篇异或
  • 1篇阵列
  • 1篇阵列设计
  • 1篇扫描测试
  • 1篇旁路攻击
  • 1篇前馈
  • 1篇芯片
  • 1篇密码
  • 1篇密码芯片
  • 1篇集成电路
  • 1篇安全芯片
  • 1篇成品率

机构

  • 3篇浙江大学

作者

  • 2篇项群良
  • 2篇张培勇
  • 2篇冯忱晖
  • 2篇欧阳冬生
  • 1篇郑勇军
  • 1篇张波
  • 1篇史峥
  • 1篇严晓浪
  • 1篇叶翼
  • 1篇潘伟伟

传媒

  • 1篇电子与信息学...
  • 1篇计算机辅助设...
  • 1篇浙江大学学报...

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
多频率段物理不可克隆函数被引量:4
2012年
物理不可克隆函数(Physical Unclonable Functions,PUF)是一种用于保护集成电路芯片安全的新方法。传统的基于振荡器的PUF在产生响应过程中振荡器的振荡频率固定不变,因此存在着被攻击的隐患。该文提出一种新的利用多频率段的PUF(Multiple Frequency Slots based PUF,MFS-PUF)来解决这个问题,通过可配置的振荡器,每产生一位响应,振荡器的振荡频率便发生转移。在每一种振荡频率下,由于不可避免地制造差异,振荡器之间的频率会有微小差别,这些略有差异的频率组成了一个频率段(frequency slot),整个系统中则存在着多个频率段。各个频率段之间随机转变,相比于传统的基于振荡器的PUF,系统输入输出响应对(Challenge-Response Pairs,CRPs)的值更大,也更加不可预测,这使得攻击者使用建模攻击的复杂度大大增加,在保证了自身性能的同时增强了本身的安全性。
项群良张培勇欧阳冬生冯忱晖
关键词:安全芯片
基于模块化单元的测试结构阵列设计及其应用
2013年
针对纳米级半导体制造工艺中传统测试芯片掩模面积利用率低的问题,提出一种基于模块化单元的可扩展成品率测试结构阵列设计方法.基于45nm CMOS制造工艺分别实现32×32和64×64 2个大规模的测试结构阵列,模块化单元的有效面积利用率达79.31%和70.8%;流片后通过测试数据的分析能够发现通孔缺失、通孔尺寸变大以及大尺寸缺陷导致金属缺失等工艺缺陷问题.试验结果同时表明,该方法将传输门器件和测试结构组合成模块化单元;不仅能够实现对测试结构的四端测量,保证测试结果的正确性,并且能够减小成品率测试芯片的掩模面积.
张波潘伟伟叶翼郑勇军史峥严晓浪
关键词:集成电路成品率
用于密码芯片的前馈异或安全扫描结构被引量:1
2012年
扫描结构在给密码芯片增加可测性的同时也可能被不当使用为旁路攻击路径,使密码芯片的密钥信息泄露.为解决这个问题,提出一种前馈异或安全扫描结构.首先将异或安全扫描寄存器引入扫描结构中,该结构对测试图形进行输入?输出线性变换,实现对测试图形的硬件加密;然后分析了该结构的安全性并给出其测试图形生成算法.实验结果表明,文中提出的安全扫描结构能抗击基于扫描结构的旁路攻击和复位攻击,并保留了传统扫描结构的高测试覆盖率.
欧阳冬生张培勇项群良冯忱晖
关键词:密码芯片扫描测试旁路攻击
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