您的位置： 专家智库 > >

国家高技术研究发展计划(2006AA03Z206)

作品数：1 被引量：1H指数：1
相关作者：周义刚孔令启李晓航肖立业张正臣更多>>
相关机构：中国科学院中国科学院研究生院更多>>
发文基金：国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域：一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇带材
  • 1篇BI2223...
  • 1篇BI2223...
  • 1篇IC
  • 1篇N
  • 1篇I

机构

  • 1篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...

作者

  • 1篇张正臣
  • 1篇肖立业
  • 1篇李晓航
  • 1篇孔令启
  • 1篇周义刚

传媒

  • 1篇稀有金属材料...

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
电压引线距离对Bi2223/Ag带材I_c和n值测量结果的影响被引量：1
2008年
研究了采用四引线法测量Bi2223/Ag带材的Ic和n值时,电压引线距离对测量结果的影响。实验结果表明,对于同一根Bi2223/Ag带材,在不同的电压引线距离下,采用四引线法测得的Ic和n值(尤其是最小值)结果不同;n值弱点对带材端对端n值的影响比Ic弱点对带材端对端Ic的影响更大;对于百米量级的长带,通过测量带材端对端以及抽样短样的Ic和n值,很难检测出弱点,必须采用四引线法在较小的电压引线距离下逐段检测或者采用非接触连续磁测法进行检测。
张正臣周义刚孔令启李晓航肖立业
关键词：BI2223/AG带材IC
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0