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国家高技术研究发展计划(2006AA03A118)

作品数:6 被引量:4H指数:2
相关作者:刘斌谢自力郑有炓张荣修向前更多>>
相关机构:南京大学中国科学院江苏省光电信息功能材料重点实验室更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划国家重点基础研究发展计划国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信自然科学总论更多>>

文献类型

  • 12篇会议论文
  • 6篇期刊文章

领域

  • 9篇电子电信
  • 9篇理学
  • 1篇自然科学总论

主题

  • 5篇INN薄膜
  • 5篇MOCVD
  • 4篇金属有机物
  • 4篇GAN
  • 3篇射线衍射
  • 3篇位错
  • 3篇金属有机物化...
  • 3篇光学
  • 3篇XRD
  • 3篇X射线衍射
  • 2篇多量子阱
  • 2篇生长温度
  • 2篇结构和光学性...
  • 2篇光学性
  • 2篇光学性质
  • 2篇INGAN/...
  • 2篇MO
  • 2篇MOCVD生...
  • 2篇超晶格
  • 2篇超晶格材料

机构

  • 12篇南京大学
  • 5篇江苏省光电信...
  • 3篇中国科学院
  • 1篇南京大学扬州...

作者

  • 17篇谢自力
  • 15篇张荣
  • 14篇郑有炓
  • 11篇刘斌
  • 10篇韩平
  • 9篇修向前
  • 7篇李弋
  • 6篇傅德颐
  • 6篇施毅
  • 5篇宋黎红
  • 5篇江若琏
  • 5篇赵红
  • 5篇张曾
  • 5篇刘斌
  • 4篇顾书林
  • 4篇崔影超
  • 3篇施毅
  • 2篇陈鹏
  • 2篇刘启佳
  • 1篇崔颖超

传媒

  • 3篇物理学报
  • 3篇第十六届全国...
  • 1篇功能材料
  • 1篇中国科技成果
  • 1篇中国科学(G...
  • 1篇第11届全国...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 4篇2009
  • 5篇2008
  • 7篇2007
6 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
采用高分辨XRD对m面GaN位错特性的研究
利用高分辨X射线衍射方法,分析了在LiAlO2(100)面上采用金属有机化学气相沉积生长的m面GaN薄膜的微观结构和位错。采用对称面扫描和非对称面扫描等方法研究了晶面倾转角、面内扭转角、横向和垂直关联长度等,由此得到螺位...
宋黎红谢自力张荣刘斌李弋傅德颐张曾崔影超修向前韩平施毅郑有炓
关键词:GAN位错X射线衍射
文献传递
InN薄膜MOCVD生长初期成核研究与应力分析
<正>本文系统研究了利用金属有机化学气相沉积生长非故意掺杂 InN 薄膜的初期成核与应力变化过程。InN 生长采用宝石衬底,控制 GaN 缓冲层上 InN 外延层生长时间,以得到处于不同生长阶段的样品。通过表面形貌与扫描...
张曾张荣谢自力刘斌修向前江若琏韩平顾书林施毅郑有炓
文献传递
Mn掺杂GaN基稀磁半导体材料制备和特性研究
利用金属有机物化学气相沉积法在蓝宝石衬底上生长了Mn掺杂GaN基稀磁半导体材料。原子力显微镜研究表明,少量的Mn在样品表面起到活性作用。X射线衍射和喇曼散射研究表明,当Mn的掺杂浓度很低(<2.7%)时并没有观察到第二相...
谢自力张荣崔旭高陶志阔修向前刘斌李弋傅德颐张曾宋黎红崔影超韩平施毅郑有炓
关键词:金属有机物化学气相沉积稀磁半导体锰掺杂X射线衍射
文献传递
单芯片GaN基宽谱白光LED研究
2011年
在过去的10年当中,基于固态照明的科学技术取得了长足且快速的发展。采用半导体发光二极管(LED)的照明光源,已经渗透到许多特定的照明领域。在这当中,特别是全固体白光发光二极管的研发和应用正在世界各地风起云涌。
关键词:白光LED白光发光二极管GAN单芯片固态照明照明光源
利用金属有机物化学气相沉积技术生长的a面GaN表面形貌和位错的研究
2009年
采用金属有机物化学气相沉积技术在r面蓝宝石衬底上制备了a面GaN薄膜,用熔融的KOH在400℃对样品分别腐蚀1.0,1.5和2.0min.用扫描电镜、原子力显微镜、X射线衍射谱和阴极射线荧光对腐蚀前后的表面形貌进行分析.研究表明,400℃下腐蚀1.5min后出现了长平行四边形的条纹状,这是由于无极化的a面GaN表面极性各向异性,c向与m向上N原子悬挂键密度不同,同时稳定性不同,对OH-离子的吸附能力不同造成的,其中沿c方向易于腐蚀.同时,a面GaN腐蚀后出现了六角突起.我们认为这与穿透位错有关,而其形貌则与GaN薄膜的位错局部极性有关.
崔影超谢自力赵红梅琴李弋刘斌宋黎红张荣郑有炓
关键词:堆垛层错
AlxGa1-xN/AIN超晶格材料的结构和光学特性
随着三族氮化物(AlN,GaN,InN)在蓝绿光和紫外光电子器件领域的广泛应用,垂直共振腔结构被用来提高器件的量子效率。高反射率的 GaN 基分布式布拉格反射镜 (Distributed Bragg Reflctors)...
谢自力张荣江若琏刘斌姬小利龚海梅赵红修向前韩平施毅郑有炓
文献传递
MOCVD技术生长的InN薄膜结构和光学性质
高质量的 InN 材料的带隙宽度在0.7 eV,对应光谱波长位于红外区,这就使Ⅲ族氮化物 (InN、GaN、AlN)及其合金的带隙宽度对应的光谱覆盖了从红外到紫外范围。因此,InN 及其含 In 组分的合金(InGaN,...
谢自力张荣江若琏修向前刘斌赵红朱顺民韩平施毅顾书林郑有炓
文献传递
厚度对MOCVD生长InN薄膜位错特性与光电性质的影响被引量:2
2009年
研究了金属有机物化学气相沉积法制备的不同厚度InN薄膜的位错特性与光电性质.基于马赛克微晶模型,通过X射线衍射非对称面摇摆曲线测量,拟合出样品刃型位错密度分别为4.2×1010cm-2和6.3×1010cm-2,并发现样品的微晶扭转角与位错密度随薄膜厚度增加而减小.通过室温霍尔效应测量得到样品载流子浓度分别为9×1018cm-3和1.2×1018cm-3,采用氮空位作为背景载流子起源的模型解释了随厚度增加载流子浓度的减小与迁移率的增大.光致发光峰随温度的S形非单调变化表明材料中的局域态参与了光学跃迁过程,结合局域态发光和能带收缩效应计算得到样品的局域化能量分别为5.05meV和5.58meV,指出较厚样品中缺陷态的减少是载流子局域化效应削弱的原因.
张曾张荣谢自力刘斌修向前李弋傅德颐陆海陈鹏韩平郑有炓汤晨光陈涌海王占国
关键词:氮化铟位错局域态
MOCVD外延生长a面GaN薄膜及其面内各向异性研究
使用MOCVD直接外延r面蓝宝石衬底得到非极性a面GaN薄膜。高分辨X射线衍射发现薄膜晶体结构的面内各向异性,利用倒易空间法获得[0001]和[100]方向横向关联长度分别为41.9、14.8 nm,解释了面内各向异性的...
李弋谢自力刘斌傅德颐张荣郑有炓
关键词:非极性金属有机物化学气相沉积
文献传递
生长温度对AlGaInN四元合金薄膜性质的影响
2009年
利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法在c面蓝宝石(α-Al2O3)衬底上外延生长了铝镓铟氮(AlGaInN)四元合金薄膜.合金薄膜的生长温度设置为800,850,900℃,对获得的样品进行对比分析发现:随着生长温度的升高,合金中的In组分单调降低,而Al组分则基本保持恒定.当合金薄膜的生长温度升高到850℃时,薄膜表面开始出现V型缺陷;生长温度进一步升高到900℃时,偏析In原子的脱吸附作用加剧,V型缺陷成核被弱化,使V型缺陷的特征尺寸和分布密度大幅降低.
刘启佳邵勇吴真龙徐洲徐峰刘斌谢自力陈鹏
关键词:金属有机物化学气相沉积生长温度
共2页<12>
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