国家高技术研究发展计划(2007AA12Z104)
- 作品数：5 被引量：40H指数：5
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- 相关机构：中国科学院更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划国家重点基础研究发展计划福建省农科院青年科技人才创新基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 热红外高光谱成像系统的背景抑制和性能优化被引量：8
- 2010年
- 在分析热红外高光谱成像系统主要技术参数之间的制约关系的基础上,针对热红外高光谱成像系统目标能量微弱、背景热辐射严重等难点,提出了几种有效抑制背景辐射的措施,并建立了一套高背景抑制的热红外高光谱推帚式成像实验装置,实现了地面试验成像.根据冷背景实验结果,分析了热红外高光谱成像系统的性能和各种影响因素的关系,并提出了系统性能优化的可行性.
- 王建宇徐卫明袁立银林颖何志平刘军
- 热红外高光谱系统信号成分分析及处理被引量：6
- 2010年
- 光学系统自身热辐射产生的杂散光以及分光后信号能量的下降,极大影响着热红外高光谱系统的信噪比。光学系统制冷可大大减少系统杂散光,但低温下探测器暗电流对有效信号的影响变得突出。对热红外高光谱系统的信号成分进行理论分析,将探测器输出信号分为四个部分,并对各部分进行测量,得到常温和低温制冷条件下各信号成分以及等效噪声温差的变化规律,找到影响系统性能的关键因素,并给出提高系统信噪比的方案,为我国热红外高光谱系统的进一步发展与实用化提供参考。
- 林颖徐卫明袁立银王建宇
- 关键词：热红外杂散光
- 长波红外高光谱非均匀性校正及光谱特征提取被引量：11
- 2011年
- 长波红外高光谱系统既可分析目标成分又能感应其温度信息,广泛应用于遥感领域。该系统响应波段为7.7~9.5μm,共32个波段,光谱分辨率达53 nm,可用于地质勘探,环境监测等领域。由于长波红外器件工艺问题,探测器在成像之前必须进行非均匀性校正。通过对比基于焦平面和基于光谱的校正方法,说明后者能够很好地保持目标的原始光谱特征,并且不具有场景依赖的特点。在此基础上,提出从原始光谱曲线中提取目标光谱特征的方法,得到不同温度黑体和高光谱图像上不同目标的光谱曲线。
- 林颖徐卫明袁立银王建宇
- 关键词：非均匀性校正
- 红外高光谱成像系统光学设计及检测被引量：7
- 2010年
- 为了建立一套星载红外精细分光光谱成像系统的地面实验装置,设计了一套红外高光谱推扫式成像光学系统。该系统由望远物镜和分光计两部分组成,选用锗和硒化锌两种红外材料,采用平面闪耀光栅分光,光机系统后接制冷型红外面阵探测器。其光谱覆盖7.7～9.3μm(根据红外焦平面阵列FPA的光谱响应范围而定),视场角达12°,光谱分辨率为54 nm,空间分辨为0.75 mrad,光机模块尺寸为100 mm×300 mm×100 mm。整机的测试结果表明:光学系统成像质量完好,光谱分辨率SRF达到了预先设计的要求值,噪声等效温差NEDT接近300 mK。该系统的设计及整机测试为红外高光谱成像系统的进一步实用化提供了技术基础。
- 袁立银王建宇林颖徐卫明何志平舒嵘
- 关键词：红外
- 长波红外高光谱成像系统的设计与实现被引量：13
- 2011年
- 针对长波红外高光谱系统背景辐射强以及信噪比低的特点．设计了能有效抑制背景辐射的长波红外精细分光光谱成像系统。利用杂散辐射分析软件，对系统进行了背景辐射分析，包括全波段各辐射面源对背景辐射的贡献分量、各光学通道的背景辐射、机械内壁吸收率对背景辐射的影响、以及光机内壁温度对背景辐射的影响。主要通过制冷光机系，统的温度、抛光亮化处理光谱仪的内部表面，降低系统的背景辐射。搭建了一套地面实验装置，该系统光谱范围为7．7～9．3p,m，光谱分辨率为54nm，空间分辨为0．75mrad，推扫式成像。整机的测试结果表明，系统的光谱分辨率（SRF）达到了预先设计的要求值，低温150K时，系统的噪声等效温差NETD接近300mK。
- 袁立银林颖何志平徐卫明张滢清舒嵘王建宇
- 关键词：长波红外
