中山晶通光学技术有限公司
- 作品数：16 被引量：1H指数：1
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- 黄绿色荧光成像用环烯烃共聚物镜片减反膜的研制
- 2024年
- 针对黄绿色荧光成像过程中由于发光微弱导致细节丢失的问题,以环烯烃共聚物中的F52R材料为基底镜片,采用电子束离子辅助蒸发的方法制备了可见光波段黄绿光高通型的减反膜。根据光谱使用要求,利用膜系设计软件TFCalc进行了膜系的设计和优化;通过离子源沉积工艺的优化,解决了低温镀制过程中膜层牢固度的问题。测试结果表明:当光线的入射角为5°时,400~700nm平均反射率约为0.55%,500~600nm的黄绿光平均反射率约为0.29%,光谱曲线呈现黄绿光高通的形状,满足使用要求。
- 石澎陈琦陆思浩卢志坚曹秀锋
- 关键词：光学塑料膜系设计
- 一种真空镀膜机测厚探头的恒温水循环系统
- 本实用新型涉及一种真空镀膜机测厚探头的恒温水循环系统，包括蓄水箱、接入所述蓄水箱的水热装置、水冷装置，还包括第一水泵、测厚探头水冷管，所述蓄水箱、第一水泵、测厚探头水冷管相互水路连接成循环回路，还包括与水热装置电性连接的...
- 卢志坚
- 文献传递
- 铬金属薄膜的椭偏法研究被引量：1
- 2022年
- 为获得铬(Cr)金属薄膜的光学常数,文章采用武汉颐光科技公司生产的SE-VM-L型宽光谱全穆勒矩阵椭偏仪,测量和分析了用光控自动真空镀膜机沉积在石英玻璃上得到的单层Cr金属薄膜,得到了Cr金属薄膜在200~1 700 nm宽谱上的光学常数曲线和薄膜厚度。根据Cr金属的薄膜特性及成膜特点,采用“基底/空气”模型进行拟合,建模时采用Cauchy模型和Gaussion模型,对建立的各种模型测量得到的数据进行了分析和比较。结果表明,对于厚度较薄的金属样品来说,椭偏仪无法同时解偶样品薄膜折射率N、消光系数K和样品薄膜厚度d;模拟较薄Cr纯金属薄膜时,需要导入样品的透过率T,通过拟合得到均方差为2.3,测量得到较合理的Cr金属薄膜的厚度为23.77 nm。该研究结果对Cr金属薄膜膜层设计和制备有参考价值。
- 魏以婧石澎张鸿佳胡梓杰曾嘉琳卢志坚
- 关键词：光学常数椭偏法
- 一种用于清洁镜片的辅助擦拭机
- 本实用新型涉及一种用于清洁镜片的辅助擦拭机，包括底座、销钉，以及依次叠置在底座上的平面轴承、圆筒形的传动连接件和镜座，所述圆筒形镜座上底面设有安放镜片的凹槽位、下底面设有内接于传动连接件内圆侧面的第一凸缘，所述镜座的第一...
- 卢志坚
- 文献传递
- 生物识别信息保护用镀膜镜片的研制
- 2023年
- 文章针对当前生物识别技术中存在的隐私泄露和信息安全风险,以K9镜片为基底,利用光学薄膜设计软件设计了阻断识别系统探测光源的近红外截止滤光片和提高可见光波段透过率的减反膜系,并采用电子束蒸发技术对设计的光学薄膜进行了镀制。测试结果表明,镜片在420~680 nm时平均透过率为98%以上,850 nm和940 nm两个波长的反射率大于99.5%。在不影响视物的情况下,能够实现阻断生物信息识别用两个近红外波长850 nm、940 nm探测光源。
- 石澎谭炳林刘庆伦许茵柔林芝庆曹秀锋
- 关键词：生物识别光学薄膜防护膜近红外
- 一种电炉退热托盘
- 本实用新型公开的一种电炉退热托盘，其特征在于，包括：托盘架，在其上具有一供放置加热电炉的平台；升降构件，其设置于托盘架下方，供驱使托盘架上下移动。通过升降构件升降托盘架，这样当需要对扩散泵进行加热时将电炉盘随托盘架上升贴...
- 卢志坚李素坤
- 一种塑基镀银膜系结构的光学件
- 本实用新型涉及一种塑基镀银膜系结构的光学件，包括塑料基底，所述塑料基底上镀有内Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>膜层、外Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>膜层，还包括所述内Al<S...
- 卢志坚
- 文献传递
- 一种膜系结构的ND镜
- 本实用新型涉及一种膜系结构的ND镜，包括玻璃主体，所述玻璃主体上光线穿过的一个面或两个面上镀有至少两层不同的减光膜，所述减光膜的可见光光谱透过率高低互补。采用两层或多层可见光光谱透过率高低互补的减光膜，在玻璃主体上镀膜制...
- 卢志坚
- 文献传递
- 蓝色减反射膜的设计与制备
- 2020年
- 一些光学系统存在蓝光过量问题,容易破坏成像色彩平衡。本文利用专业膜系设计软件,采用Needle优化法进行膜系设计,使用离子辅助沉积的方法制备了蓝色减反射膜。这种光学薄膜可以将440~500 nm范围的平均反射率控制在1.3%左右,而其他可见光的平均反射率为0.3%左右,蓝光反射率比其他可见光的反射率高1.0%左右,可以有效消除蓝光过量导致的成像偏色问题。
- 石澎王丽荣张鸿佳张宁李超财卢志坚
- 关键词：减反射膜光学薄膜反射率膜系设计
- 基于椭偏法对薄膜器件参数测量及反向优化研究
- 2023年
- 传统薄膜器件通常使用物理气相沉积法进行开发及镀制,难以实现薄膜镀制与设计的一致性,导致薄膜器件镀制及研发与设计不符。为此,文章基于椭偏法对薄膜器件进行测量及反向优化进行研究,建立薄膜参数测量及反向优化模型,使用椭偏仪对研发镀制的Ag金属薄膜器件进行网格划分测量区域及模型优化;使用模型将介电常数的实部虚部进行拟合,测得材料的介电常数求出材料的折射率和消光系数;最后,拟合膜层厚度为20.226nm,测得薄膜参数厚度、折射率n和消光系数k数据与镀制薄膜数据进行对比,厚度相差3.562nm,镀制与测量值具有一定差异,测得折射率和消光系数数据与传统方式相比更合理和精准。
- 魏以婧石澎王丽荣卢志坚梁怡婷
- 关键词：椭偏法网格
