张月
- 作品数：4 被引量：8H指数：2
- 供职机构：装甲兵工程学院信息工程系更多>>
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- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 考虑串扰影响的时延测试
- 超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法.该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率.实验表明,以该...
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：串扰时延测试集成电路测试生成算法
- 文献传递
- 针对串扰引起的时延故障的测试产生被引量：4
- 2004年
- 串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障 针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法 ,该算法采用了波形敏化技术 实验结果表明 。
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：串扰时延故障
- 考虑串扰影响的时延测试被引量：5
- 2003年
- 超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题。本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法。该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率。实验表明,以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内,对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生。
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：集成电路集成度串扰时延测试
- 考虑串扰影响的时延测试
- 超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题。本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法。该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率。实验表明,以该...
- 张月李华伟宫云战李晓维
- 关键词：串扰时延测试
- 文献传递
