刘得金
- 作品数：3 被引量：2H指数：1
- 供职机构：浙江大学电气工程学院超大规模集成电路设计研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- 高效率集成电路测试芯片设计方法被引量：2
- 2013年
- 对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
- 胡龙跃史峥刘得金邵康鹏
- 关键词：超大规模集成电路
- 用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程
- 2014年
- 在工艺开发包的验证过程中,需要手动地在版图编辑器中对参数化单元进行实例化和摆放绕线,由此产生大量测试芯片。为此,提出一种用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程,采用软件接口产生Skill脚本和工艺开发包交互,以获取工艺开发包的信息、发送命令对工艺开发包进行操作的方法,能自动地对参数化单元予以实例化,自动地摆放绕线,并实现测试芯片版图的布局规划。用该软件接口针对某代工厂的40 nm半导体工艺开发包开发一套测试芯片,产生一条测试芯片的平均时间为5.2 s左右,结果证明该方法是有效的,能缩短工艺开发包的验证时间。
- 刘得金史峥胡龙跃
- 关键词：可制造性设计电子设计自动化
- 验证工艺开发包的测试芯片的自动生成流程研究
- 在全定制电路设计中，工艺开发包是连接电路设计工程师和半导体制造商之间的桥梁。混合信号设计复杂度的日趋增加，开发工艺开发包并建立有效的验证流程对于降低昂贵的反复设计过程所带来的市场风险是非常重要的。在研究了工艺开发包开发与...
- 刘得金
- 文献传递
