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胡芳菲

作品数：8 被引量：41H指数：5
供职机构：北京有色金属研究总院更多>>
发文基金：国家创新方法工作专项更多>>
相关领域：理学化学工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文
  • 1篇专利

领域

  • 6篇理学
  • 1篇化学工程

主题

  • 8篇质谱
  • 8篇质谱法
  • 7篇质谱法测定
  • 5篇直流辉光
  • 5篇直流辉光放电
  • 5篇辉光
  • 5篇辉光放电
  • 3篇等离子体质谱
  • 3篇等离子体质谱...
  • 3篇电感耦合
  • 3篇电感耦合等离...
  • 3篇电感耦合等离...
  • 3篇电感耦合等离...
  • 3篇离子
  • 3篇高纯
  • 2篇电感耦合等离...
  • 2篇氧化铝
  • 2篇氧化镧
  • 2篇激光剥蚀
  • 2篇粉末

机构

  • 8篇北京有色金属...

作者

  • 8篇胡芳菲
  • 6篇李继东
  • 5篇王长华
  • 3篇刘英
  • 1篇孙泽明
  • 1篇宋永清
  • 1篇刘鹏宇
  • 1篇童坚
  • 1篇臧慕文
  • 1篇于磊

传媒

  • 2篇质谱学报
  • 1篇冶金分析
  • 1篇稀有金属
  • 1篇分析试验室
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 1篇2021
  • 2篇2015
  • 4篇2014
  • 1篇2013
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
直流辉光放电质谱法测定高纯氧化镧中25种杂质元素被引量：14
2014年
利用铜粉作为导电介质，与氧化镧粉末混合均匀，压片，采用直流辉光放电质谱法（dc—GDMS）测定了高纯氧化镧粉末中的部分杂质元素含量。考察了辉光放电条件，如放电电流、放电气体流量、离子源温度以及压片条件，如两种粉末的混合比例、压片机压力等因素对放电稳定性以及灵敏度的影响，优化了实验条件；尝试了将镧，氧和铜的总信号归一化进行计算的方法，用差减法计算了高纯氧化镧粉末中的杂质元素含量。将铜粉作为试剂空白，连续测定11次，统计各待测元素检出限为0．005～0．34μg／g；对高纯氧化镧粉末样品独立测定6次，测定结果与电感耦合等离子体质谱法基本吻合，相对标准偏差在20％以内。
胡芳菲王长华李继东
关键词：高纯氧化镧
直流辉光放电质谱法测定高纯氧化钇中的杂质元素
钨粉作为导电介质,与氧化钇粉末混合均匀,压片,采用直流辉光放电质谱法测定了其中的杂质含量.考察了放电电流、放电气体流量以及两种粉末的混合比例等因素对放电稳定性以及灵敏度的影响,优化了实验条件.以氧化钇标准物质作为标样,对...
胡芳菲李继东刘英刘鹏宇宋永清于磊
关键词：氧化钇
采用直流辉光放电质谱法测定高纯α-Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>中杂质元素的方法
一种采用直流辉光放电质谱法测定高纯α-Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>中杂质元素的方法，包括以下步骤：(1)将Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>粉末与铜粉按比例混合均匀，然后将混...
胡芳菲王长华李继东
文献传递
电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化镧中铈含量被引量：8
2014年
采用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定了高纯La2O3中的Ce含量.选择同位素140Ce和142Ce进行测定,通过建立校正方程,分别考察了不同Nd含量的La2O3样品中140Ce和142Ce的质谱干扰情况和校正效果.结果表明,在Nd含量较高的情况下,142Ce的质谱干扰校正效果较差,回收率为-322％,RSD为173％,而140Ce的质谱干扰校正效果较好.因此,建立了Nd含量较高的La2O3中Ce含量的测定方法,140Ce的检出限为1.5 μg/g,相对标准偏差（RSD）在0.72％～1.6％之间,回收率为104％～106％.
胡芳菲王长华李继东
关键词：氧化镧铈
直流辉光放电质谱法测定氧化铝中的杂质元素被引量：11
2014年
为了探索采用直流辉光放电质谱法（dc-GDMS）测定非导体样品中的杂质含量,建立了de-GDMS法测定α-Al2O3粉末中杂质元素的方法.以Cu粉作为导电介质,与α-Al2O3粉末混合均匀,压片,考察辉光放电条件（放电电流、放电气体流量、离子源温度）和压片条件（两种粉末的混合比例、压片机压力等因素）对放电稳定性和灵敏度的影响,同时优化了实验条件.尝试将Al、O、Cu的总信号归一化进行计算,并用差减法计算了Al2O3粉末中的杂质含量.方法精密度在54％以内,元素检出限为0.005～0.57 μg/g.该方法的测定结果与直流电弧发射光谱法的测定结果基本吻合.
胡芳菲王长华李继东
关键词：氧化铝粉末压片归一化
激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法测定多晶硅中杂质元素被引量：5
2013年
采用激光剥蚀固体进样技术结合电感耦合等离子体质谱法测定了多晶硅中的元素B、Cu和Zn。考察了该三种杂质元素在多晶硅样品不同深度层面和同一深度层面的分布情况;尝试了采用硅基体信号归一化的方法计算了测定元素的含量。结果表明,杂质元素B、Cu和Zn在多晶硅材料中分布均匀,且测定结果与辉光放电质谱法的测定结果相吻合。这一方法可用于判别多晶硅表面的污染情况,以及杂质元素在多晶硅材料内部分布的均匀性。
胡芳菲王长华刘英李继东
关键词：激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法多晶硅
激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法测定高纯金中多种痕量杂质元素被引量：5
2021年
建立了激光剥蚀电感耦合等离子体质谱测定高纯金中Mg,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Zn,As,Se,Pd,Ag,Sn,Sb,Pb,Bi,Te 16种痕量元素的分析方法。测试参数优化实验表明在线扫描模式下,激光能量为100%,剥蚀孔径为200μm,扫描速率为60μm·s-1,载气流量为0.6 L·min^(-1)条件下,信号强度高,稳定性好。尝试用纯铜标样建立了部分元素相对灵敏度因子,对归一化法结果进行修正,提高了方法准确度。方法的相对标准偏差(relative standard deviation,RSD)为3.8%~21.0%,方法的仪器检出限为0.0008~0.1900μg·g^(-1)。可满足高纯度金样品低损耗检测需求。
陈晓峰胡芳菲臧慕文孙泽明刘英童坚
关键词：痕量元素
直流辉光放电质谱法测定氧化铝等三种非导体材料中杂质的研究
直流辉光放电质谱法在高纯材料成分分析领域发展迅速。一般来说,它的定量限比电感耦合等离子体质谱法低1-2个数量级。该方法采用固体直接进样的方式进行测定,与湿化学法相比,缩短了样品前处理时间,同时也避免了由湿化学法带来的试剂...
胡芳菲
关键词：粉末
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