朱恒静
- 作品数：9 被引量：3H指数：1
- 供职机构：中国航天科技集团公司五院511所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电气工程电子电信更多>>
- L82C51串行通讯接口研制
- 1993年
- 本文介绍了L82C51芯片电路的基本功能,关键制造工艺,测试方法。分析了该芯片版图设计特点及V_T控制方法。
- 喻德顺苏秀娣朱恒静
- 关键词：芯片串行通讯接口设备
- 煤气管网压力控制程序设计
- 1990年
- 本文讨论了煤气管网压力控制系统的工作原理和系统组成,着重介绍了控制原理的软件实现方法和程序设计思想。
- 朱恒静
- 关键词：控制程序设计煤气管网采样周期设定值
- IEEE1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
- 2002年
- 提出了加强测试存取口（ＴＡＰ）功能的一种方法，使之可以随两个时钟工作，一个用于控制与ＩＥＥＥ１１４９．１标准相兼容的操作，另一个控制器件所固有的可测试特性．这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性．
- 朱恒静
- 关键词：IEEE1149.1可测性
- L80C86 16位微处理器
- 1995年
- 本文报道了1994年研制成功的我国L80C8616位微处理器，论述了标志我国μPLSI新水平的该电路结构特征、系统逻辑、电路设计、芯片形成及测验技术等。
- 朱秉晨宁书林刘鉴伟李冬菊朱恒静姚履忠孙武山王士秀
- 关键词：CMOS微处理器接口单元CPU
- 利用IDDQ技术测试CMOS器件被引量：1
- 2001年
- 早在1960年,IC制造者利用I_(DDQ)技术测试器件是否存在功耗过大的问题。现在,I_(DDQ)成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试所不能发现的制造过程所产生的故障。I_(DDQ)和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性。
- 朱恒静
- 关键词：IDDQ测试
- L82C59A优先中断控制器
- 李范益张东庄朱恒静吴梦德尹淑兰
- L82C59A优先中断控制器（简称PIC）是为中断驱动方式微机系统实时控制设计研制的一种高速高性能接口电路，广泛用于80C86/C88和8080/85系统的中断控制。PIC在一 个中断驱动方式系统中，就像一个全面管理人员...
- 关键词：
- 关键词：实时控制电路控制器接口电路
- 用可测性设计的方法设计PLA
- 2001年
- 全面、有效地测试PLA ,是保证PLA类产品可靠性的重要手段。在设计的同时就考虑其测试问题 ,是解决PLA测试问题行之有效的方法。介绍了怎样用可测性设计的方法解决PLA的测试问题 ,给出了几种具体的实施方案 。
- 朱恒静张卓
- 关键词：可测性设计可编程逻辑阵列数字电路
- L82C59A优先中断控制器的研制
- 1994年
- 本文简明介绍了L82C59的电路功能和可编程设定多种工作方式，文章还说明了设计上采取的一系列措施和制造工艺中控制要点。该电路的研制成功为提高CPU的工作效率和外设利用率创造了条件。
- 张东庄李范益朱恒静
- 关键词：接口电路CPU
- 一种降低RAM测试复杂性的新方法被引量：2
- 2000年
- 本文给出了一种 I_(DDQ)测试技术和传统的走步测试相结合的 RAM测试方法。采用 I_(DDQ)测试技术可以减少 RAM测试的成本,但由于 RAM结构和使用上的限制,只采用 I_(DDQ)测试其故障检测能力不够高。在常规 RAM测试的基础上增加 I_(DDQ)测试是一个很好的解决方案。RAM阵列中的桥接故障、栅氧短路故障,可以用 I_(DDQ)覆盖。I_(DDQ)测试与走步测试相结合可以测试开路、数据滞留等不能仅仅由 I_(DDQ)技术测试的故障。对于一个给定的 SRAM故障模型,此方法可以减少测试的复杂性,测试复杂程度从16n(n为 RAM的地址数)减少到 5n+4。
- 朱恒静
- 关键词：IDDQ测试RAM
