王晓忠
- 作品数：7 被引量：11H指数：2
- 供职机构：哈尔滨工程大学理学院更多>>
- 发文基金：黑龙江省自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术机械工程更多>>
- 基于共光路干涉原理的精细表面粗糙度测量方法被引量：5
- 2006年
- 提出了一种利用光的干涉原理测量光滑物体表面粗糙度的方法。该方法采用两光束共光路、同心聚焦扫描可实现表面粗糙度的绝对测量。使用一个半波片改变一路光束的偏振态,避免了传统测量系统中光路具有可逆性的问题,保证了系统的稳定性。使用一个1/4波片使接收端的光束偏振态方向一致,使干涉信号可见度最大。该系统光路结构简单,容易实现。对一标准量块进行了测量,并对光功率计分辨率对测量结果的影响进行了分析,结果表明本系统在实验室现有条件下可以测量轮廓算术平均偏差R_a为0．012μm的粗糙度量块。
- 张锡芳王政平王晓忠张艳娥王丽会
- 关键词：粗糙度琼斯矩阵HE-NE激光器
- 波长积累效应对光学玻璃电流传感器输出影响的理论分析
- 2006年
- 在单层保偏膜式光学玻璃电流传感系统中,费尔德(Verdet)常数、线性双折射和反射相移都是光波长的函数即存在色散特性,因此在采用宽带光源时系统中会产生波长积累效应。先给出了三者的色散特性公式,再对其波长积累效应进行理论分析和计算机仿真。研究结果表明,在所考虑的线性双折射和反射相移的量值范围内,波长积累效应对光学玻璃电流传感系统影响甚微,用单色光模型处理宽带系统的做法是合理的与可行的;光源谱宽变化对系统输出的影响小于0.025%,在考虑三者的联合影响时,Verdet常数色散的影响占主导地位,而且整体上系统输出随光源谱宽的增加而有微弱增加。
- 王晓忠王政平
- 关键词：光学电流传感器
- 线性双折射的波长积累效应对OCS的影响被引量：1
- 2005年
- 线性双折射的波长积累效应涉及到用单色光模型替代复色光系统是否合理与可行的问题,因此有必要予以研究.文中先给出了适用于ZF-7玻璃的线性双折射的色散特性公式,再对线性双折射的波长积累效应进行理论分析和计算机仿真.研究结果表明,线性双折射的波长积累效应对OCS系统影响甚微,因此在理论研究中若不考虑其他光学参量的波长积累效应,用单色光模型处理宽带系统的做法有其合理性与可行性.此结果可供从事光学电流传感器研究的同行参考.
- 王政平刘晓瑜王晓忠
- 关键词：光学电流传感器线性双折射
- 光源谱宽通过Verdet常量的色散对OCS输出影响的理论分析被引量：1
- 2006年
- 费尔德(Verdet)常量是衡量磁光玻璃材料性能的重要参数之一.它是光波长的函数,因而存在色散特性.当光学电流传感系统采用具有一定谱宽的光源时,会因材料的Verdet常量对不同波长的光具有不同的量值而对系统的输出产生影响.迄今为止对该问题的研究尚罕见报道.文中先求解了ZF-7玻璃Verdet常量色散特性公式中磁光系数的大小,然后对光源谱宽通过Verdet常量色散对输出的影响进行了理论分析和计算机仿真.研究结果表明,光源谱宽在60 nm范围内通过Verdet常量的色散特性对OCS系统输出的影响小于万分之四,因此在理论研究中若不考虑其他光学参量的色散效应,用单色光模型处理光源具有一定谱宽的系统的做法是合理的与可行的.此结果可供从事光学电流传感器研究的同行参考.
- 王政平欧阳春梅王晓忠
- 关键词：光学电流传感器色散特性
- 光学玻璃电流传感头温度特性分析被引量：2
- 2006年
- 建立了光学玻璃电流传感头的热学模型，用有限元的方法及有限元分析软件ANSYS定量的分析了周围环境温度变化对光学玻璃电流传感头及传感光路上温度分布的影响情况，给出了光学玻璃电流传感头的等温线分布以及传感光路上的温度分布情况。研究结果表明：当周围环境温度在-40～40℃范围内变化时，光学电流传感头上温度分布将会变化。但温度梯度变化不大，最大的温度梯度仅为3℃左右；传感光路上的温度分布也将变化80℃左右，同样光路上的温度梯度较小，不会超过2℃。故制作光学玻璃传感头时，应考虑周围环境温度变化对整个系统所带桌的影响。
- 王政平王锋王晓忠
- 关键词：有限元温度特性
- 保偏膜式光学玻璃电流传感头温度特性理论分析被引量：1
- 2006年
- 用理论分析和计算机仿真的方法研究了环境温度变化导致的光源中心波长移动和传感头材料Verdet常量与应力双折射变化对光学电流互感器输出性能的影响·结果表明:环境温度由10℃变化到30℃时,归一化尺度因子降低了1.379%·其中光源中心波长随温度的变化对输出尺度因子的影响大于其他光学参量温度特性的影响·因此,在光学电流互感器设计中,必须采取必要的技术措施减小或补偿传感头温度特性对系统的不利影响·
- 王政平王晓忠李庆波
- 关键词：光学电流互感器温度特性线性双折射
- 一种利用偏振干涉原理测量表面粗糙度的方法被引量：2
- 2007年
- 近年来,对精加工表面质量的要求日益增高,使得表面粗糙度的测量具有越来越重要的地位.提出了一种新颖的,利用光的干涉原理测量光滑物体表面粗糙度的方法.该光路使用一个半波片改变一路光束的偏振态,避免了以前广泛使用的类似测量系统中光路具有可逆性的问题,保证了系统的稳定性.使用一个1/4波片使接收端的光束的偏振态方向一致,使干涉信号最强.采用两光束共光路、同心聚焦扫描方法可实现表面粗糙度的绝对测量.通过对一标准量块的测量验证了方案的可行性,结果表明该系统在实验室现有条件下可以测量轮廓算术平均偏差Ra为0.012μm的粗糙度量块.
- 王政平张锡芳王晓忠张艳娥王丽会
- 关键词：HE-NE激光器
