史辰
- 作品数：26 被引量：82H指数：4
- 供职机构：北京工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金北京市自然科学基金北京市教委资助项目更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程自动化与计算机技术更多>>
- 白光功率LED应用简述被引量：4
- 2007年
- 20世纪60年代半导体发光二极管（LED，Light Emimng Diode）研制成功，引发了照明工程领域的革命。LED以寿命长、发光响应时间短、光色纯、性能稳定可靠、绿色环保节能等优点，迅速发展并逐步取代传统光源。
- 吴娟贺卫利陈曦史辰陈建新
- 关键词：功率LED发光二极管白光LIGHT工程领域
- 一种光电转换除霜控制系统
- 本实用新型公开了一种利用光电转换原理，对空气源热泵机组、热泵型房间空调器等制冷装置实现除霜控制的系统。其技术方案为：将包括发射器和接收器的光电传感器布置于拟除霜的制冷装置的换热器表面两侧，电流源与发射器相连，并为发射器输...
- 王伟史辰肖婧尚春鸽郭庆慈路伟鹏
- 文献传递
- 77K下电流增益为2.6万的SiGe/Si HBT
- 2001年
- 通过优化设计ＳｉＧｅ／Ｓｉ ＨＢＴ的纵向参数，找到一种低温工艺方法，研制出了在液氮温度下电流增益达到２６０００的高增益异质结晶体管。
- 邹德恕陈建新徐晨魏欢史辰杜金玉高国邓军沈光地
- 关键词：HBT电流增益锗化硅异质结晶体管
- 射频放大器前馈技术仿真被引量：3
- 2006年
- 为了满足现代无线通信对放大器线性度的要求,需要对射频放大器的线性度进行优化．讨论了前馈技术的原理和方法。并用ADS软件进行了仿真,利用前馈技术优化的放大器,线性度改善了40 dB以上,表明前馈技术对改善放大器的线性度效果明显。
- 陈建新谢万波杨维明史辰
- 关键词：射频放大器前馈线性度
- 基于DirectX的LED照明仿真系统被引量：1
- 2008年
- 针对LED光源与传统光源的不同,对基于DirectX的LED照明仿真系统进行了研究.主要探讨了利用DirectX9 SDK开发此系统的优势,结合计算机图形学和光学的基本理论知识,研究LED灯光仿真系统的基本原理和主要组成部分,提出建模方案和人机交互界面的设计,并对计算结果进行分析.
- 陈建新陈曦史辰贺卫利
- 关键词：DIRECTX仿真照明
- 用离子注入和掩埋金属自对准技术改善Si/SiGe HBT性能
- 2005年
- 在器件纵向结构确定后,常规工艺制作的SiGe/SiHBT噪声性能不理想的主要原因是其基极电阻较大,高频性能不理想主要是由于其基极和发射极台面面积较大造成的;为达到改善其高频与低噪声性能的目的,在不改变光刻工艺精度的情况下,采用离子注入和掩埋金属自对准工艺方法完成了器件制作;与传统制作方法相比,前者可减小外基区电阻,后者可以减小电极接触电阻,并能使器件的台面面积做得更小。在此基础上,我们测试了器件的最小噪声系数与最高截止频率,结果表明:用自对准工艺制作的器件的高频噪声与频率性能都显著改善。
- 杨维明史辰徐晨陈建新
- 关键词：离子注入HBT噪声系数
- 一种光电转换除霜控制系统及方法
- 本发明公开了一种利用光电转换原理，对空气源热泵机组、热泵型房间空调器等制冷装置实现除霜控制的系统及方法。其技术方案为：将包括发射器和接收器的光电传感器布置于拟除霜的制冷装置的换热器表面两侧，电流源与发射器相连，并为发射器...
- 王伟史辰肖婧尚春鸽郭庆慈路伟鹏
- 文献传递
- SiGe HBT双端口网络参数模型和模拟
- 2006年
- 针对等效电路模型中应用频率范围窄、精度低以及在高频器件分析过程中与网络分析法的兼容性差等问题,由交流I-V方程出发,推导得到使用散射参数描述的锗硅异质结双极晶体管(SiGe HBT)的双端口网络参数模型．着重分析了Si／SiGe异质结和基区结构对器件交流性能的作用,并尽量避免省略物理量和对频率上限的限制．与等效电路模型相比,模型的频域精度由半定量提高至优于5％,并将适用频率由特定范围扩展至只计入本征参数时的特征频率fT,涵盖全部SiGe HBT的小信号工作频段,为器件的设计、优化和应用提供了一种宽频带和高精度的定量模拟方法．
- 史辰杨维明刘素娟陈建新
- 关键词：锗硅异质结
- Si/SiGe异质结晶体管的参数提取与特性模拟
- 2004年
- 用实验测量和理论计算相结合的方法提取了Si/SiGe 异质结晶体管的直流和高频参数,分别在PSPICE和MATLAB软件平台上模拟并分析了器件的直流和高频特性,模拟结果与实际测量的结果相吻合,表明本文的提取方法可行、参数提取结果有效。
- 杨维明陈建新邹德恕史辰李振国高铭洁
- 关键词：异质结晶体管PSPICEMATLAB
- 大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法被引量：31
- 2008年
- 介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。
- 贺卫利郭伟玲高伟史辰陈曦吴娟陈建新
- 关键词：发光二极管数学模型
