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徐锐
作品数:
1
被引量:1
H指数:1
供职机构:
扬州大学物理科学与技术学院
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
理学
一般工业技术
电气工程
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合作作者
陈小兵
扬州大学物理科学与技术学院
沈柏清
扬州大学物理科学与技术学院
卢网平
扬州大学物理科学与技术学院
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徐锐
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陈小兵
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扬州大学学报...
年份
1篇
2004
共
1
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Dy掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的介电性能
被引量:1
2004年
采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18(x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能.Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损耗峰P ,该损耗峰的激活能为0.4eV,可以确定该峰是由氧空位引起的.结果表明:离子半径较小的Dy3+很难进入类钙钛矿层,造成样品中大量的A位空位,使得氧空位浓度增加.氧空位的存在会导致很强的畴钉扎,从而极化降低.
徐锐
沈柏清
卢网平
陈小兵
关键词:
铁电
陶瓷
介电损耗
激活能
氧空位
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