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欧叶芳

作品数：10 被引量：3H指数：1
供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域：电子电信经济管理机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 8篇电子电信
  • 1篇经济管理
  • 1篇机械工程

主题

  • 5篇耦合器
  • 5篇光电耦合
  • 5篇光电耦合器
  • 2篇电流传输比
  • 2篇散热
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片粘接
  • 2篇晶体管
  • 2篇功率
  • 2篇功率晶体管
  • 2篇高频
  • 2篇高频大功率
  • 2篇高频大功率晶...
  • 2篇CTR
  • 2篇大功率
  • 2篇大功率晶体管
  • 1篇电源
  • 1篇电源模块
  • 1篇电子产品
  • 1篇电子元

机构

  • 4篇信息产业部
  • 3篇信息产业部电...
  • 2篇中华人民共和...
  • 1篇中国电子产品...

作者

  • 10篇欧叶芳
  • 3篇郑廷圭
  • 2篇徐爱斌
  • 2篇李少平
  • 2篇李少平
  • 2篇徐爱斌
  • 1篇郑廷珪
  • 1篇李少平
  • 1篇徐爱斌
  • 1篇来萍
  • 1篇郑廷圭

传媒

  • 4篇电子产品可靠...
  • 1篇电子质量
  • 1篇第九届全国可...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇第十一届全国...
  • 1篇第八届全国可...

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2002
  • 2篇2001
  • 3篇2000
  • 2篇1999
共 10 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
非破坏性分析和失效分析的辅助方法—X射线透视检测
本文介绍了采用X-射线透视照相技术对半导体器件的生产过程中需要对某道工序的质量检查,看是否符合技术规范的要求和失效分析前为避免破坏原失效现象和引入新的失效机理,使失效分析工作得以快而准顺利进行的实例.
欧叶芳
关键词：非破坏性分析多余物电子产品
文献传递
国产光电耦合器主要故障模式和失效机理被引量：3
2000年
通过对 6种型号 2 0多只国产光电耦合器失效样品的失效分析 ,分析研究了国产光电耦合器的
徐爱斌李少平欧叶芳郑廷珪
关键词：光电耦合器
光电耦合器电流传输比CTR的退化现象和退化机理
该文对光电耦合器电流传输比CTR的退化现象及其退化机理进行了研究探讨，提出了控制CTR退化的主要技术途径。
徐爱斌李少平欧叶芳郑延圭
关键词：光电耦合器电流传输比
文献传递
高频大功率晶体管的失效分析
2002年
介绍了对某型号高频大功率晶体管进行的失效分析。分析结果表明器件在寿命试验中发生击穿失效的主要原因是芯片的散热结构存在工艺和设计方面的问题,这也是影响高频大功率工作寿命的主要问题。
欧叶芳
关键词：高频大功率晶体管芯片粘接散热
光电耦合器失效模式及其机理分析
对六种型号二十多只国产光电耦合器失效样品的失效分析研究了国产光电耦的六种主要失效模式及其失效机理。
徐爱斌李少平欧叶芳郑廷圭
关键词：光电耦合器失效模式
国产光电耦合器密封试验和内部水汽含量检测结果分析
1999年
本文对国内三个光电耦合器主要生产厂家的多种型号品种气密封装光电耦合产品开展了密封试验和内部水汽含量检测，并着重对试验结果进行了分析讨论。
徐爱斌李少平欧叶芳郑廷圭
关键词：光电耦合器内部水汽含量
声表面波器件芯片附着强度不合格因素分析与改进措施研究
针对DPA中出现的声表面波(SAW)器件芯片附着强度不合格问题,通过多次的试验检测、分析数据和研究标准,进行了芯片附着强度因素分析,提出了改进措施。
徐爱斌欧叶芳
文献传递
光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策
2001年
研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。
徐爱斌李少平欧叶芳郑廷圭
关键词：光电耦合器电流传输比
严把进口元器件的质量关
2000年
本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果，讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时，可靠性方面存在的一些问题，并提出了一些改进方法和建议。
来萍欧叶芳郑廷圭
关键词：电子元器件微波放大器电源模块
高频大功率晶体管的失效分析
介绍了对某型号高频大功率晶体管进行的失效分析.分析结果表明器件在寿命试验中发生击穿失效的主要原因是芯片的散热结构存在工艺和设计方面的问题,这也是影响高频大功率工作寿命的主要问题.
欧叶芳
关键词：芯片粘接散热
文献传递
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