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薛宏

作品数:4 被引量:1H指数:1
供职机构:东北微电子研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇设计方法
  • 1篇实时时钟
  • 1篇匹配方式
  • 1篇微处理机
  • 1篇集成电路
  • 1篇规程
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇EEPROM...
  • 1篇测试程序
  • 1篇测试技术
  • 1篇程序设计
  • 1篇程序设计方法
  • 1篇处理机
  • 1篇串行
  • 1篇串行EEPR...

机构

  • 4篇东北微电子研...

作者

  • 4篇薛宏
  • 2篇栗学忠
  • 1篇耿爽
  • 1篇苏彬
  • 1篇吉国凡

传媒

  • 2篇微处理机
  • 1篇微电子测试
  • 1篇2002年全...

年份

  • 2篇2002
  • 1篇1999
  • 1篇1997
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
LN8274多规程串行控制器的测试与应用
2002年
基于 LN82 74芯片的串行通信应用越来越多 ,尤其是在采样率较高的实时控制系统中应用更加普遍。本文介绍了 LN82
薛宏耿爽
串行EEPROM器件及其测试程序设计
1997年
近几年串行EEPROM广泛应用于智能卡、蜂窝电话、SIM模式识别、网络节点ID的存储等方面,因此很有必要了解这一器件的操作情况及测试程序设计方法,以便于更好地使用它和维护机器。本文以24C16为典型介绍的测试编程方法,同样适用于MPSX8404、X25043等门类的EEPROM。
栗学忠薛宏
关键词:串行EEPROM程序设计方法
用于CMOS集成电路的IDDQ测试技术研究被引量:1
1999年
主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 :一种是片内 IDDQ测试 ;另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ,设计一个电流传感器。后者是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路 ,变 IDDQ为电压测试 。
吉国凡薛宏王忆文
关键词:CMOS集成电路集成电路
微处理机实时时钟电路测试技术
本文简要叙述了LC58167、LC58274等一类微处理机实时时钟电路的主要功能,并重点介绍了应用几种编程技巧测试此类器件的关键技术.
栗学忠薛宏苏彬
关键词:实时时钟测试程序匹配方式微处理机电路测试测试技术
文献传递
共1页<1>
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