陈诚
- 作品数：11 被引量：4H指数：1
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅用...
- 于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
- 文献传递
- 基于UltraFlex系统的FPGA直流参数补偿测试方法被引量：1
- 2018年
- 现场可编程集成电路FPGA是在信息产业中硬件、软件和系统集成三位一体、不可取代的高端处理芯片,对电子信息系统的先进性、安全性、可靠性等起着决定性作用。由于FPGA电路测试中pogopin精密连接器和字母板连接方式的引入电阻,使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高的难度,因此必须在测试大电流负载直流参数时对这些通路电阻进行修正,否则会导致测试失效。在UltraFlex测试系统自带的PPMU模板的基础上,提出一种改进型的电阻修正模板。实验证明,该模板可以大大提高对于FPGA直流参数测试的准确性。
- 陈诚陈龙肖艳梅
- 关键词：FPGA
- 一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法
- 本发明涉及微电子集成电路技术领域，特别涉及一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法。包括：芯粒检测器，包括上层芯粒检测器和下层芯粒检测器；每个单芯粒的上层芯粒检测器和下层芯粒检测器接收并输出来自相邻单芯粒的下层...
- 解维坤洪浩斐宋国栋陈龙林晓会陈诚刘小婷魏梦凡蔡志匡
- 一种FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法
- 本发明公开了一种配置次数尽可能少的基于Virtex架构的FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法，该方法以移位寄存器链模式测试FPGA电路的六长线，可以测试6根为一组的同方向的六长线的任意2根信号之间的桥接故障；总计采用...
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- 文献传递
- 一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法
- 本发明涉及反熔丝FPGA测试技术领域，具体涉及一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法。包括：步骤a：ATE测试系统实时采集并比对反熔丝FPGA的输出结果，如果芯片失效，将失效的向量地址形成测试报告输出a1，修改特定的...
- 李岱林陈诚王建超黄健康培培
- 一种FPGA单长线及其直连开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线及其直连开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的24根单长线，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅...
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- 一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅用...
- 于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
- 基于V93000的千万门级SRAM型FPGA测试技术研究被引量：3
- 2020年
- 随着集成电路技术和工艺的突飞猛进,FPGA器件正朝向高速、高密度、高带宽、低功耗的趋势发展。在设计和制造大规模SRAM型FPGA器件的同时,如何高效率、高覆盖率和低成本测试FPGA器件显得尤为重要。该文以Xilinx厂家的Kintex-7系列FPGA电路为研究对象,通过研究SRAM型FPGA测试方法,利用V93000自动测试系统实现对千万门级FPGA进行在线压缩配置,建立完备的测试开发流程,完成各项参数、功能测试,实现量产测试程序开发。为后续亿门级FPGA和其他大规模数字集成电路测试开发提供了新思路。
- 林晓会解维坤张凯虹陈诚
- 关键词：自动测试系统
- 一种FPGA单长线及其直连开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线及其直连开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的24根单长线，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅...
- 陆峰徐彦峰于大鑫陈诚季正凯李晓磊
- 文献传递
- 一种FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法
- 本发明公开了一种配置次数尽可能少的基于Virtex架构的FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法，该方法以移位寄存器链模式测试FPGA电路的六长线，可以测试6根为一组的同方向的六长线的任意2根信号之间的桥接故障；总计采用...
- 于大鑫徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
