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李越生

作品数：43 被引量：129H指数：7
供职机构：复旦大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划山东省自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信理学化学工程动力工程及工程热物理更多>>

合作作者

文献类型

  • 33篇期刊文章
  • 5篇会议论文
  • 4篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 20篇电子电信
  • 13篇理学
  • 4篇化学工程
  • 2篇动力工程及工...
  • 2篇电气工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇医药卫生

主题

  • 8篇电池
  • 6篇电极
  • 4篇电池正极
  • 4篇电池正极材料
  • 4篇电路
  • 4篇正极
  • 4篇正极材料
  • 4篇离子
  • 4篇集成电路
  • 4篇封装
  • 4篇SIMS
  • 3篇电化学
  • 3篇电化学性能
  • 3篇乙烯
  • 3篇石墨
  • 3篇石墨烯
  • 3篇树脂
  • 3篇偏氟乙烯
  • 3篇离子束
  • 3篇膜电极

机构

  • 43篇复旦大学
  • 6篇中国工程物理...
  • 1篇北京大学
  • 1篇聊城大学
  • 1篇上海第二医科...
  • 1篇中国科学院
  • 1篇光电子有限公...
  • 1篇上海蓝光科技...

作者

  • 43篇李越生
  • 8篇宗祥福
  • 7篇傅正文
  • 7篇聂福德
  • 6篇范仲勇
  • 6篇曹永明
  • 6篇杨银
  • 5篇曾韡
  • 5篇郑国祥
  • 5篇陆海纬
  • 3篇方培源
  • 3篇陈维孝
  • 3篇宋云
  • 2篇纪刚
  • 2篇于瀛
  • 2篇李金山
  • 2篇付海涛
  • 2篇陈忠浩
  • 2篇周永宁
  • 2篇胡春华

传媒

  • 5篇半导体技术
  • 5篇复旦学报（自...
  • 4篇固体电子学研...
  • 3篇化学学报
  • 2篇含能材料
  • 2篇Journa...
  • 1篇分析化学
  • 1篇高等学校化学...
  • 1篇中华整形外科...
  • 1篇无机化学学报
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇分析测试学报
  • 1篇色谱
  • 1篇真空科学与技...
  • 1篇上海计量测试
  • 1篇火炸药学报
  • 1篇半导体光电
  • 1篇质谱学报
  • 1篇2006年全...
  • 1篇中国物理学会...

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2014
  • 2篇2013
  • 6篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 2篇2009
  • 2篇2008
  • 4篇2007
  • 3篇2006
  • 2篇2005
  • 3篇2004
  • 3篇2003
  • 2篇2002
  • 2篇2001
  • 2篇2000
  • 3篇1999
  • 3篇1998
共 43 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
高密度封装用氮化铝(AIN)/玻璃复合材料低温共烧研究被引量：1
2003年
从排胶和共烧两方面 ,研究了氮化铝 ( Al N) /玻璃复合材料的低温共烧。排胶研究结果表明 :流延坯片和银浆的排胶特性不同 ,氧化性气氛有利于两者的排胶。共烧研究表明 :Al N/玻璃复合系统的烧结为液相烧结 ;引入微氧烧结气氛将改变界面状况 ,有利于 Al
廖淼李越生汪荣昌戎瑞芬顾志光
关键词：集成电路高密度封装氮化铝AIN复合材料低温共烧
化合物半导体薄膜工艺参数的分光光度法测试
2009年
化合物半导体的组分与膜厚等是光电子器件工艺监控中的关键工艺参数,因为这些参数直接影响着器件的光学和电学等性能。介绍了通过分光光度法和Forouhi-Bloomer离散方程相结合的方法测定化合物半导体薄膜折射率n与膜厚d,通过材料组分与折射率之间关系的分析进而得到化合物组分x,该结果用SIMS和XRD方法得到验证。由于分光光度法能够快速无损地测量反射率,并且由该反射率能够更准确地测到其组分信息,因此在实际的生产在线监控和工艺改进中有良好的应用前景。
杨柳滨江素华郝茂盛李越生
关键词：分光光度法
Mg在GaP材料中掺杂行为的SIMS分析
2000年
Mg of Gap doping characteristics in MOCVD have been studied by using SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) measurement. The experimental results show that the Mg incorporation is considered to be limited by Mg revaporization from the growth surface under the higher temperature and the Mg electrical activity decreases with increasing cP2Mg flow-rate. The activation energy of Mg in GaP is also respectively obtained.
李越生方培源宗祥福
关键词：镁掺杂SIMS分析
一种用于锂空电池的石墨烯-铂纳米复合催化剂及其制备方法
本发明属电化学技术领域，具体为一种锂空电池石墨烯-铂（RGO-Pt）纳米复合催化剂及其制备方法。该纳米复合催化剂材料通过液相脉冲激光烧蚀技术（LP-PLA）制备获得。由该复合催化剂制成的薄膜电极用于锂空电池正极材料，具有...
杨银李越生傅正文
文献传递
用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分被引量：4
1999年
用飞行时间二次离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分：邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得ｎ＝０～４的环氧树脂分子及相应的水解成分和ｎ＝１～７的酚醛树脂分子。碎片离子中除了芳香化合物的特征碎片外，还有反映树脂结构的碎片。通过对环氧树脂银离化碎片离子的分析。
潘艺永李越生陈维孝宗祥福
关键词：模塑料环氧树脂集成电路TOFSIMS
双壳层结构Fe_3O_4磁性纳米复合材料的合成以及微波吸收性能被引量：1
2014年
Fe3O4磁性纳米颗粒具有良好的微波吸波性能,但是也有着容易被氧化、吸收频带窄等缺点.以不同粒径的Fe3O4磁性纳米颗粒为核,采用模板法制备了具有双壳层结构的Fe3O4@SiO2@SiO2纳米复合材料.不仅提高了Fe3O4磁性纳米颗粒的稳定性,引入的介电材料还可以实行阻抗匹配,改善材料的吸波性能.
刘梦眉车仁超李越生
关键词：模板法
二次离子质谱分析被引量：10
2003年
一、引言 二次离子质谱(SecondaryIon Mass Spectrometry)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段.通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像.
王铮曹永明李越生方培源
关键词：SIMS
Forouhi-Bloomer离散方程在低k材料光学表征上的应用被引量：1
2007年
半导体工艺中对低k介质材料的精确表征是工艺监控的重要环节,传统方法如扫描电子显微镜和透射电子显微镜存在耗时长和破坏性等缺点。使用一种结合了Forouhi-Bloomer离散方程组和宽光谱分光光度法的新方法,对低k薄膜进行光学表征,得到薄膜的折射率n、消光系数k和膜厚d,并将结果与椭偏仪的测量进行比较,证明了使用F-B方程在半导体工艺中精确表征低k材料的能力和这种方法快速无损的优点。
吴恩超江素华胡琳琳张卫李越生
关键词：低K材料折射率
纳米结构类金刚石薄膜用于锂空电池的研究
杨银李越生傅正文
关键词：类金刚石薄膜反应机理
大功率LED封装的温度场和热应力分布的分析被引量：35
2008年
针对典型的大功率发光二极管(LED)塑封器件,建立了3D模型,对器件内部从初始到正常工作状态过程中的温度分布和热应力分布进行了有限元分析模拟,并测试了实际器件表面特征点的温度变化。瞬态热分析的结果与实际的器件表面温度实测数据吻合较好。考虑到不同散热条件的影响,给出了该大功率LED塑封器件中热应力集中区域和该类器件适当的工作范围。
戴炜锋王珺李越生
关键词：大功率LED热应力温度
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