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马铁中
作品数:
10
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供职机构:
浙江大学
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
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合作作者
严晓浪
浙江大学
史峥
浙江大学
郑勇军
浙江大学
任杰
浙江大学
熊建
浙江大学
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自动化与计算...
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集成电路版图
机构
10篇
浙江大学
作者
10篇
郑勇军
10篇
马铁中
10篇
史峥
10篇
严晓浪
3篇
任杰
2篇
罗小华
2篇
熊建
1篇
叶翼
年份
1篇
2012
1篇
2011
5篇
2010
3篇
2008
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一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法
本发明公开一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法,包括:(1)建立设计版图图形失效和记忆体特征失效相对应的数据库;(2)判断生产线缺陷所造成的版图图形失效;(3)判断图形失效特征相对应的记忆体特征失效;(4)判断整个...
叶翼
马铁中
郑勇军
史峥
严晓浪
文献传递
一种增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法
本发明公开的增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法,步骤包括:以芯片设计规则的最大公约数λ为基本单位,将标准单元版图均匀划分成矩形网格,设置格点属性构造格点属性矩阵;通过波传播操作、版图格点属性矩阵的与操作运算把通孔分为:...
罗小华
严晓浪
史峥
郑勇军
马铁中
文献传递
一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法
本发明公开了一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法,通过利用测试芯片来精确地确定生产线的各种工艺模块缺率陷曲线和接触孔的失效率以及结合对产品版图的每层断电和漏电的有效面积曲线和接触孔的个数的分析,从而建立成品率模型框架...
马铁中
郑勇军
史峥
严晓浪
文献传递
一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法
本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法,包括:(1)建立记忆体原始成品率模型;(2)建立记忆体特征失效成品率的模型;(3)记忆体特征失效的修复计算;(4)记忆体最终成品率的计算;(5)记忆体特征失效和工艺...
郑勇军
马铁中
史峥
严晓浪
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一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法
本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法,包括:(1)建立记忆体原始成品率模型;(2)建立记忆体特征失效成品率的模型;(3)记忆体特征失效的修复计算;(4)记忆体最终成品率的计算;(5)记忆体特征失效和工艺...
任杰
郑勇军
马铁中
史峥
严晓浪
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一种增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法
本发明公开的增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法,步骤包括:以芯片设计规则的最大公约数λ为基本单位,将标准单元版图均匀划分成矩形网格,设置格点属性构造格点属性矩阵;通过波传播操作、版图格点属性矩阵的与操作运算把通孔分为:...
罗小华
严晓浪
史峥
郑勇军
马铁中
一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法,包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建
任杰
严晓浪
史峥
马铁中
郑勇军
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一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法,包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建
任杰
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史峥
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郑勇军
一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法
本发明公开了一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法,通过利用测试芯片来精确地确定生产线的各种工艺模块缺率陷曲线和接触孔的失效率以及结合对产品版图的每层断电和漏电的有效面积曲线和接触孔的个数的分析,从而建立成品率模型框架...
马铁中
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史峥
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一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法
本发明公开一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法,包括:(1)建立设计版图图形失效和记忆体特征失效相对应的数据库;(2)判断生产线缺陷所造成的版图图形失效;(3)判断图形失效特征相对应的记忆体特征失效;(4)判断整个...
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