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李建超

作品数:4 被引量:26H指数:3
供职机构:西安工业学院光电与工程学院陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室更多>>
发文基金:陕西省教育厅规划基金中国人民解放军总装备部预研基金国家留学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学

主题

  • 4篇金刚石薄膜
  • 4篇类金刚石
  • 4篇类金刚石薄膜
  • 3篇光学
  • 3篇光学常数
  • 3篇薄膜光学
  • 3篇薄膜光学常数
  • 1篇应力
  • 1篇应力研究
  • 1篇折射率
  • 1篇退火算法
  • 1篇椭偏光谱
  • 1篇模拟退火
  • 1篇模拟退火算法
  • 1篇可靠性
  • 1篇光谱
  • 1篇非平衡磁控溅...
  • 1篇DLC薄膜
  • 1篇测量方法
  • 1篇磁控

机构

  • 4篇西安工业学院
  • 1篇悉尼大学

作者

  • 4篇李建超
  • 3篇徐均琪
  • 2篇杭凌侠
  • 2篇苏俊宏

传媒

  • 1篇武汉大学学报...
  • 1篇光电工程
  • 1篇应用光学
  • 1篇光学与光电技...

年份

  • 3篇2005
  • 1篇2004
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
非平衡磁控溅射DLC薄膜应力研究被引量:3
2005年
类金刚石(DLC) 薄膜可用作红外增透保护膜,高的薄膜残余应力造成薄膜附着力下降是目前应用中存在的主要问题之一.本文从DLC薄膜作为红外增透保护膜的需求出发,采用非平衡磁控溅射技术生长DLC薄膜.实测了薄膜的残余应力,分析研究了薄膜残余应力在不同工艺条件下的变化情况.探讨了薄膜残余应力与薄膜厚度、光学透过率、离子能量、沉积速率以及能流密度之间的关系.研究结果表明,薄膜残余应力平衡值在0.9~2.2GPa之间,相应的单面镀膜样片的透过率在4μm波长处为69% ~ 63%,随工艺的不同而变化.工艺优化后薄膜残余应力显著下降.硅基底上薄膜与基底剥离的力的临界值大于2160GPa·nm,最大薄膜厚度≥ 2400nm;锗基底上最大薄膜厚度≥ 2000nm,可以满足整个红外波段的需求.
杭凌侠Y.YIN 徐均琪李建超
关键词:应力类金刚石薄膜非平衡磁控溅射
薄膜光学常数的模拟退火算法研究被引量:8
2005年
在薄膜的光学参数拟合时,操作者给定的模型初值对拟合结果有很大的关系。采用广泛用于求解复杂系统优化问题的模拟退火算法来求解薄膜光学常数,降低了操作者给定拟合模型初值的要求。通过对常规的模拟退火算法以及非常快速的模拟退火方法(Very Fast Stimulated Annealing,VFSA)分析,针对性地在模型扰动及退火计划上存在的缺陷作了改进,提高了 VFSA 算法的计算稳健性。通过大量的拟合实践,验证了提出的改进模拟退火方法的有效性。
李建超苏俊宏
关键词:类金刚石薄膜光学常数模拟退火算法
类金刚石薄膜光学常数拟合模型的合理性研究被引量:5
2004年
 由于椭偏光谱测量结果不能直接反映所测量样品材料的结构和光学性质,所以需要利用最小二乘法来拟合分析椭偏光谱数据得到光学常数。而椭偏光谱分析依赖于构建的模型,且可能存在多模型解,因此考虑模型的合理性就显得十分必要。本文采用椭偏法测量了类金刚石薄膜(DLC)的光学常数,分析并拟合了脉冲真空电弧离子技术镀制的类金刚石薄膜的椭偏光谱,获得了光学常数,并对拟合模型的合理性和测量结果的可靠性进行了分析。
李建超苏俊宏徐均琪
关键词:类金刚石薄膜光学常数椭偏光谱可靠性
类金刚石薄膜光学常数的测量方法被引量:11
2005年
采用椭偏法测量类金刚石(DLC)薄膜的光学常数,分析了DLC薄膜折射率分布情况,提出了DLC薄膜折射率呈渐变分布的概念,建立了采用椭偏法进行DLC薄膜光学常数测量的多层物理模型,分析讨论了实验方法的可行性和测量结果的可靠性.实验结果表明:采用该模型进行DLC薄膜光学常数的测量,使拟合误差(MSE)从31.71下降到1.125,提高了测量精度.
杭凌侠徐均琪李建超
关键词:类金刚石薄膜折射率
共1页<1>
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