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李蔚

作品数：8 被引量：18H指数：3
供职机构：复旦大学信息科学与工程学院专用集成电路与系统国家重点实验室更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇中文期刊文章

领域

  • 8篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 4篇VLSI
  • 3篇矢量
  • 3篇矢量量化
  • 3篇图像
  • 3篇图像编码
  • 3篇VLSI结构
  • 2篇电路
  • 2篇集成电路
  • 1篇读出
  • 1篇扫描测试
  • 1篇设计方法
  • 1篇图像处理
  • 1篇图象
  • 1篇图象编码
  • 1篇转换器
  • 1篇子空间
  • 1篇灵敏放大器
  • 1篇逻辑电路
  • 1篇模拟集成电路
  • 1篇可测试性

机构

  • 8篇复旦大学

作者

  • 8篇李蔚
  • 5篇章倩苓
  • 4篇周汀
  • 2篇程君侠
  • 2篇陈旭昀
  • 1篇李清
  • 1篇欧俊雯
  • 1篇闵昊
  • 1篇郑增钰
  • 1篇叶波
  • 1篇石亦欣
  • 1篇苏腾
  • 1篇俞军

传媒

  • 3篇微电子学
  • 2篇电子学报
  • 1篇Journa...
  • 1篇电路与系统学...
  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2007
  • 2篇1998
  • 3篇1997
  • 1篇1996
  • 1篇1994
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
一种矢量编码器的VLSI结构被引量：4
1998年
我们提出了一种基于最小绝对值误差测试（MMAE）矢量编码器的VLSI结构．这一结构采用了误差测度的和值不等式判据、预排序的码书和最近邻搜索算法，并采用二分搜索方法和特殊的误差测度计算及比较结构，大大降低了系统的实现规模，同时采用并行流水线等设计技术，可以获得每8个时钟周期编码一个矢量的处理速度，整个系统采用硬件描述语言VHDL在Synopsys系统中进行了设计验证和综合．
周汀陈旭昀章倩苓李蔚
关键词：图像编码矢量量化VLSI
相关矢量量化图象编码算法的VLSI结构被引量：1
1997年
本文提出了一种实现相关矢量量化图象编码算法的VLSI结构．该结构根据相关矢量量化编码算法，利用相邻图象块编码地址的相关性，提高编码效率，并采用特殊设计的图象边缘块处理方法，降低实现复杂度．本文详细讨论了相关矢量量化图象编／解码器各部分的VLSI实现结构，并介绍了电路设计与模拟结果．
周汀章倩苓李蔚李清
关键词：图像编码VLSI
基于DCT子空间失真测度的矢量量化VLSI结构设计
1997年
本文提出了一种实现离散余弦变换（DCT）子空间失真测度矢量编码算法的VLSI结构。该结构利用DCT子空间映射，将失量量化失真测度维数从16降至4，并且结合最小覆盖搜索算法大幅度改善信噪比特性，从而在保证信噪比的条件下，使该编码器的实现规模降至一般矢量统码器的1／4。并且，本文对该算法作了进一步的改进，使实现更为简单。
周汀章倩苓李蔚闵昊
关键词：图象编码矢量量化VLSI
I^2L单元的建库技术被引量：2
1994年
叙述了Ｉ２Ｌ的基本结构及原理，提出了Ｉ２Ｌ单元的建库方法，包括逻辑符号库、版图库、功能参数库的建立三部分内容，提出了常规逻辑图到Ｉ２Ｌ逻辑图的转换法则，以Ｄ触发器为例说明了Ｉ２Ｌ单元的建库过程。
叶波李蔚郑增钰
关键词：逻辑电路集成电路
一种改进的相关图像矢量量化编码算法被引量：6
1997年
本文提出了一种改进的图像矢量量化编码算法．该算法通过采用增加预测块，以及根据相邻块状态进行控制信息的条件熵编码等改进方法，进一步提高了算法的编码效率．为了便于算法实现，本文对图像的边缘引进了一致的处理方法．测试结果表明，相对于无记忆矢量量化编码算法，比特率约下降４０％，相对于文献［５］算法，比特率约下降１５％．
周汀章倩苓李蔚
关键词：图像编码矢量量化图像处理
一种高速CMOS　SRAM读出灵敏放大器的设计被引量：1
1996年
提出了一种ＣＭＯＳＳＲＡＭ读出灵敏放大器的新结构。该放大器同传统的ＰＭＯＳ电流镜放大器和ＰＭＯＳ交叉耦合放大器相比，具有速度快、增益大、功耗小等特点，可广泛应用于ＳＲＡＭ的设计中。最后，用ＨＳＰＩＣＥ的仿真结果证明了该设计的正确性及其优点。
苏腾陈旭昀李蔚
关键词：VLSISRAMIC灵敏放大器
一种流水线结构A/D转换器的设计被引量：4
1998年
介绍了一种适于数字ＣＭＯＳ工艺实现的优化流水线结构Ａ／Ｄ转换器的设计。并从如何减少误差来源，消除误差影响，减小电路设计难度等方面对该结构进行了详细分析。公式论证和仿真结果表明，采用该方案可实现２０ＭＨｚ工作频率和１０位分辨率的高速高精度、低功耗Ａ／Ｄ转换器。
欧俊雯李蔚程君侠章倩苓
关键词：模拟集成电路A/D转换器
一种有效降低测试时间的SOC扫描测试设计方法被引量：1
2007年
随着集成电路规模的迅速增大,巨大的测试向量带来的测试成本压力已成为芯片产品成本考虑中一个不可忽略、甚至非常关键的要素。针对目前大规模SOC芯片测试成本高的问题,提出了一种通过测试扫描链复用来减少测试时间的方法。试验数据表明,该方法在降低测试时间的同时,保持了较高的测试覆盖率,是一种较有价值的降低SOC芯片测试成本的方法。
石亦欣李蔚俞军程君侠
关键词：SOC可测试性设计扫描测试
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