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吴永红

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院上海技术物理研究所更多>>
相关领域：理学机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文专利

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 3篇透射轴
  • 3篇偏光
  • 3篇偏振
  • 3篇偏振片
  • 3篇分界面
  • 2篇偏振光
  • 1篇起偏器
  • 1篇激光
  • 1篇激光能
  • 1篇激光能量
  • 1篇光能量

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇舒嵘
  • 3篇王建宇
  • 3篇贾建军
  • 3篇何志平
  • 3篇吴金才
  • 3篇强佳
  • 3篇吴永红
  • 3篇姜紫庆
  • 3篇杨世骥
  • 3篇周辉

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2011
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一种标定偏振片透光轴的装置及方法
本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法，它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定，适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收...
王建宇吴金才何志平舒嵘贾建军杨世骥强佳周辉姜紫庆吴永红
文献传递
一种标定偏振片透光轴的装置
本专利公开了一种标定偏振片透光轴的装置，它包括激光器、起偏器、旋转电机和功率计探头，激光器出射的光经过起偏片后变成线偏光，该线偏光对安装在带有刻度的旋转电机上的被检偏振片进行检偏，由安装在被检偏振片后面的功率计探头对检偏...
王建宇吴金才何志平舒嵘贾建军杨世骥强佳周辉姜紫庆吴永红
文献传递
一种标定偏振片透光轴的装置及方法
本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法，它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定，适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收...
王建宇吴金才何志平舒嵘贾建军杨世骥强佳周辉姜紫庆吴永红
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