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孙晓玉

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院物理研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 6篇图形化
  • 6篇图形化系统
  • 3篇导磁
  • 3篇探测器
  • 3篇局域
  • 3篇框形结构
  • 3篇光探测
  • 3篇光探测器
  • 3篇光纤
  • 3篇磁场
  • 3篇磁极
  • 2篇电子束
  • 2篇真空系统
  • 2篇响应特性
  • 1篇纳米
  • 1篇光发射器
  • 1篇光响应
  • 1篇发射器

机构

  • 6篇中国科学院

作者

  • 6篇于国强
  • 6篇郭鹏
  • 6篇韩秀峰
  • 6篇孙晓玉
  • 6篇周向前
  • 3篇刘盼
  • 3篇郭朝晖

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 2篇2013
  • 1篇2012
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
一种纳米图形化系统及其磁场施加装置
一种纳米图形化系统及其磁场施加装置，该纳米图形化系统包括真空腔、样品台和磁场施加装置，该磁场施加装置包括电源、磁场产生装置和一对磁极，所述磁场产生装置包括线圈和导磁软铁芯，所述电源与所述线圈连接，所述线圈缠绕在所述导磁软...
于国强郭鹏韩秀峰郭朝晖孙晓玉周向前
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一种纳米图形化系统及其磁场施加装置
一种纳米图形化系统及其磁场施加装置，该纳米图形化系统包括真空腔、样品台和磁场施加装置，该磁场施加装置包括电源、磁场产生装置和一对磁极，所述磁场产生装置包括线圈和导磁软铁芯，所述电源与所述线圈连接，所述线圈缠绕在所述导磁软...
于国强郭鹏韩秀峰郭朝晖孙晓玉周向前
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一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
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一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
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一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置
一种纳米图形化系统及其光响应特性检测装置，该纳米图形化系统包括电源、控制装置和测量装置，该测量装置包括电子束枪、真空腔、真空系统、样品台和光响应特性检测装置，该光响应特性检测装置包括光发射器、导入光纤、光探测器、CCD成...
刘盼郭鹏于国强韩秀峰孙晓玉周向前
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一种纳米图形化系统及其磁场施加装置
一种纳米图形化系统及其磁场施加装置，该纳米图形化系统包括真空腔、样品台和磁场施加装置，该磁场施加装置包括电源、磁场产生装置和一对磁极，所述磁场产生装置包括线圈和导磁软铁芯，所述电源与所述线圈连接，所述线圈缠绕在所述导磁软...
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