吴仕梁
- 作品数：14 被引量：1H指数：1
- 供职机构：山东大学更多>>
- 发文基金：山东省自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家重点实验室开放基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程更多>>
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的测量方法
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法，属广义椭偏测量技术领域。装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；...
- 连洁宋平薛其坤王晓钟浩然李萍高尚马峥吴仕梁王英顺
- 文献传递
- 掺钕硼酸锂玻璃光学性质的研究
- 用熔体冷却成型法制备出掺钕的硼酸锂玻璃,通过TU-1901紫外可见分光光度计对材料的透射光谱和反射光谱进行了测量,由透射光谱和反射光谱计算出了掺钕硼酸锂玻璃的吸收光谱、吸收截面等光学参数。在200nm～850nm范围内,...
- 吴仕梁连洁马跃进宋平高尚王晓马峥官文栎
- 关键词：吸收光谱吸收截面吸收边
- 文献传递
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置，属于光谱式旋光率测量领域，装置包括稳压电源、光源、准直分光部分与检测系统，其特征在于光源后面放置准直分光部分，准直分光部分后面连接检测系统；检测系统包括光电探测器、锁相放大器、PC机及...
- 连洁吴仕梁官文栎宋平高尚马峥王晓王英顺张华年
- 文献传递
- 退火对6H-SiC晶体的光学性质及光致发光的影响被引量：1
- 2010年
- 利用双光束分光光度计对高温退火前后的掺氮和未掺杂6H-SiC晶体的透射及反射谱进行了分析,发现无论退火前后,两种SiC晶体在紫外区均存在强烈的吸收。在可见和近红外区,尤其是未掺杂SiC样品具有很高的透射率,退火后,两种样品的透射率均明显提高。利用荧光分光光度计研究了退火前后样品的光致发光特性,结果表明:在390 nm Xe灯激发下,两种样品在417 nm和436 nm处均可观察到蓝光发射,417 nm处的发光归结于C簇的发光,436 nm处的发光机理为从晶粒的核心激发载流子转移到晶粒表面,并与其上的发光中心辐射复合;同时,掺氮SiC在575 nm处还存在发光峰,为氮掺入后引起的非晶SiC的发光,在325 nm Xe灯激发下,525 nm处存在发光峰,其详细发光机制有待进一步研究。
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- 关键词：光学性质光致发光
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法，属磁性材料的磁光测量技术领域，装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成，利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下：(1)光路中加入分光计可以精确测量入射角，由于分光计测...
- 连洁宋平薛其坤王晓李萍高尚马峥吴仕梁
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法，属于光谱式旋光率测量领域，装置包括稳压电源、光源、准直分光部分与检测系统，其特征在于光源后面放置准直分光部分，准直分光部分后面连接检测系统；检测系统包括光电探测器、锁相放大...
- 连洁吴仕梁官文栎宋平高尚马峥王晓王英顺张华年
- 透明光电材料的椭偏研究
- 椭圆偏振光谱学(Spectroscopic Ellipsometry，简称椭偏光谱学，缩写为SE)，是一种以椭圆偏振光的测量为基础的光谱技术。其测定的是光波与样品相互作用后（包括反射、透射或散射）偏振状态的变化。由于椭偏...
- 吴仕梁
- 关键词：折射率消光系数
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置，属广义椭偏测量技术领域。该装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；光路系统...
- 连洁宋平薛其坤王晓钟浩然李萍高尚马峥吴仕梁王英顺
- 文献传递
- PECVD法生长SiO2薄膜工艺优化
- SiO2薄膜具有绝热性好、光透过率高、抗腐蚀能力强、良好的介电性质等特点,SiO2薄膜已广泛应用在制作电子器件和集成器件、光学薄膜器件、传感器等诸多领域。采用等离子增强型化学气相沉积（PECVD）方法,在GaAs衬底上制...
- 宋平连洁高尚李萍王晓吴仕梁马峥
- 关键词：PECVD椭偏仪折射率
- 文献传递
- 衬底温度对PECVD法生长SiO2薄膜性能影响的研究
- 使用等离子增强型化学沉积法（PECVD）制备SiO2薄膜具有诸多优点。如何减少产物中的杂质元素以获得更高质量的SiO2薄膜是一个很值得研究的问题。此次实验使用PECVD法在砷化镓衬底上制备二氧化硅薄膜。通过X射线光电子能...
- 高尚连洁宋平马铮王晓吴仕梁
- 关键词：二氧化硅薄膜椭偏测量X射线光电子能谱
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