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崔伟

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：北京大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇射频集成
  • 1篇射频集成电路
  • 1篇自测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇集成电路
  • 1篇RFIC
  • 1篇EVM
  • 1篇LOOPBA...

机构

  • 1篇北京大学

作者

  • 1篇冯建华
  • 1篇崔伟
  • 1篇叶红飞
  • 1篇闫鹏

传媒

  • 1篇北京大学学报...

年份

  • 1篇2014
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法被引量：1
2014年
提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明,此方法能够正确检测出系统故障,可以应用于生产测试,并能减少测试时间和测试成本。
崔伟冯建华叶红飞闫鹏
关键词：内建自测试LOOPBACK可测性设计射频集成电路
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