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蔡士闯

作品数:7 被引量:15H指数:2
供职机构:中国人民解放军海军航空工程学院控制工程系更多>>
发文基金:国家部委预研基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇电路
  • 3篇电路板
  • 3篇FPGA
  • 2篇故障诊断
  • 2篇VITAL
  • 1篇逻辑器件
  • 1篇矩阵
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇混装电路板
  • 1篇关联矩阵
  • 1篇VHDL
  • 1篇ATE
  • 1篇DFT
  • 1篇测试程序
  • 1篇测试程序集
  • 1篇程序集

机构

  • 7篇中国人民解放...
  • 2篇北京理工大学

作者

  • 7篇蔡士闯
  • 5篇王学伟
  • 3篇王成刚
  • 1篇刘越
  • 1篇李寒冰

传媒

  • 2篇宇航计测技术
  • 2篇电子测量技术
  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇测控技术
  • 1篇舰船电子工程

年份

  • 7篇2011
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
基于相关性模型的电路板TPS开发与验证被引量:2
2011年
用TPS对电路板进行故障检测和维修,是提高新装备维修保障能力的重要环节。对TPS的开发者和最终使用者而言,如何提高TPS开发效率,并对其进行验证已经成为亟需解决的问题。分析了几种TPS验证方法的特点,提出了基于相关性模型的电路板TPS开发和验证方法。从测试性模型建立、关联矩阵生成和诊断策略设计等方面阐述了该过程。对于面向全寿命周期的综合诊断而言,该方法对提高装备综合诊断能力、降低装备维护保障费用具有重要的作用。
王成刚王学伟蔡士闯
关键词:测试程序集关联矩阵
FPGA的功能建模方法研究被引量:4
2011年
鉴于边界扫描等测试方法无法完成整板功能测试,提出了1种基于功能建模的含FPGA电路板测试方法。在此测试方法中要完成基于LASAR的电路仿真和后处理,必须事先要对FPGA进行功能建模。目前,国内尚未开展针对支持LASAR的建模方法研究,因此当测试含FPGA的电路板时,对LASAR器件库中未包含的器件模型的建立成为测试的瓶颈。在分析传统的结构模型建立的基础上,提出基于VITAL和VHDL语言的建模方法,很好的解决器件模型建立的问题。
王学伟蔡士闯
关键词:FPGAVITALVHDL
基于DFT的含FPGA电路板的测试方法研究被引量:2
2011年
随着微电子技术的不断发展,复杂逻辑器件大量应用到武器装备电路板上,电路板结构功能日趋复杂。与此同时,芯片集成度的大幅提高使得外部可接触的引脚越来越少,这就导致常规的测试方法无法实现对该类电路板的有效测试,电路板维修、检测问题日益突出。因此,在电子设备设计的开始阶段就采用可测性技术。针对含FPGA电路板,对基于DFT的测试方法进行了研究。
蔡士闯王学伟
关键词:逻辑器件电路板故障诊断可测性设计
LASAR仿真中的VITAL建模方法研究被引量:2
2011年
应用LASAR仿真方法时,只有具备了电路板网络表和电路板上所有数字逻辑器件的模型,才能够生成有效的电路板测试数据。构建完整的器件库,是有待研究的1项重要内容。VITAL建模是众多建模方法中较科学并容易实现的途径,它为ASIC库的建立、电路设计的描述提供了便利的、格式相对固定的描述方法。本文介绍VITAL的基本内容,并对用VITAL建立电路模型的方法进行详细描述。
王学伟蔡士闯李寒冰
关键词:VITAL
含FPGA电路板的测试诊断方法研究被引量:2
2011年
随着微电子技术的不断发展,越来越多的FPGA等复杂逻辑器件应用到武器装备电路板上,使电路板结构功能日趋复杂,导致传统的方法已不能对该类电路板进行有效的测试。为此,文章首先通过对FPGA的结构分析来说明FPGA测试的特殊性与复杂性,然后针对各种测试方法的优缺点,提出一种LASAR软件与ATE测试平台相结合的方法。
孙少军蔡士闯
关键词:FPGAATE
基于功能建模的含FPGA电路板测试方法研究被引量:3
2011年
由边界扫描和非边界扫描器件组成的非完全边界扫描电路板普遍存在,其故障检测与隔离是板级维修测试的难题。基于边界扫描和数字I/O的测试方法无法完成整板功能测试,提出了一种基于功能建模的含FPGA电路板测试方法。首先在FPGA开发环境中生成VITAL模型,实现其功能建模;然后将配置文件和VITAL格式数据导入LASAR,完成电路板的好板仿真和故障仿真,并生成后处理文件;最后在ATE上调用后处理文件,实现含FPGA电路板的自动测试和故障诊断。该方法无需更改测试系统软硬件,可实现该类电路板的功能测试。
王成刚刘越蔡士闯
关键词:FPGA故障诊断
基于边界扫描的混装电路板测试技术研究
2011年
随着越来越多的FPGA等复杂逻辑器件应用到武器装备电路板上,电路板上JTAG器件与非JTAG器件并存,并使电路板结构功能日趋复杂,导致传统的方法已不能对该类电路板进行有效的测试。因此,对这种含复杂逻辑器件的混装电路进行测试是迫切需要解决的难题。为此,提出了一种基于onTAP软件实现针对该类电路板边界扫描的测试方法。
蔡士闯王学伟王成刚
共1页<1>
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