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陈田

作品数:82 被引量:132H指数:7
供职机构:合肥工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家教育部博士点基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信文化科学经济管理更多>>

文献类型

  • 42篇期刊文章
  • 26篇专利
  • 11篇会议论文
  • 2篇学位论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 41篇自动化与计算...
  • 19篇电子电信
  • 5篇文化科学
  • 1篇经济管理

主题

  • 14篇数据压缩
  • 13篇测试数据
  • 11篇低功耗
  • 11篇扫描链
  • 11篇通孔
  • 11篇功耗
  • 11篇
  • 11篇测试数据压缩
  • 10篇芯片
  • 9篇电路
  • 9篇容错
  • 9篇TSV
  • 8篇自测试
  • 8篇路由
  • 8篇集成电路
  • 7篇网络
  • 7篇内建自测试
  • 6篇移位寄存器
  • 6篇上网
  • 6篇片上网络

机构

  • 82篇合肥工业大学
  • 8篇德岛大学
  • 3篇中国科学院
  • 1篇安徽师范大学
  • 1篇北京化工大学
  • 1篇江苏省南通商...
  • 1篇中国科学技术...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇德克萨斯州大...
  • 1篇中国联通
  • 1篇北德克萨斯大...

作者

  • 82篇陈田
  • 30篇王伟
  • 30篇梁华国
  • 25篇方芳
  • 21篇刘军
  • 20篇王伟
  • 17篇黄正峰
  • 17篇任福继
  • 17篇刘军
  • 16篇吴玺
  • 15篇易茂祥
  • 10篇欧阳一鸣
  • 10篇安鑫
  • 7篇蒋翠云
  • 7篇李润丰
  • 6篇李扬
  • 6篇周梦玲
  • 5篇李建华
  • 4篇孙科
  • 4篇张欢

传媒

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  • 7篇计算机应用
  • 6篇电子学报
  • 4篇计算机工程与...
  • 3篇计算机辅助设...
  • 2篇计算机研究与...
  • 2篇合肥工业大学...
  • 2篇计算机工程
  • 2篇计算机教育
  • 2篇第七届中国测...
  • 1篇合肥工业大学...
  • 1篇中国科学技术...
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇计算机应用研...
  • 1篇应用科学学报
  • 1篇软件工程
  • 1篇第十三届全国...
  • 1篇第十四届计算...

年份

  • 3篇2024
  • 2篇2023
  • 2篇2021
  • 2篇2020
  • 5篇2019
  • 3篇2018
  • 5篇2017
  • 5篇2016
  • 6篇2015
  • 8篇2014
  • 3篇2013
  • 13篇2012
  • 8篇2011
  • 5篇2010
  • 6篇2009
  • 3篇2008
  • 1篇2006
  • 1篇2002
  • 1篇2001
82 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于位差码的测试数据压缩方案
提出了一种新的测试数据压缩/解压缩的方案:位差游程编码。传统的游程编码是使用短的代码字来代换长的代码字,以此来达到降低代码字,而本文在传统的游程编码基础上,进一步考虑了代码字之间的相关性和相邻游程间的位差关系,利用位差来...
王丽娟梁华国陈田王伟李扬
关键词:测试数据压缩内建自测试
文献传递
一种基于分压电路的绑定后TSV测试方法
2024年
对硅通孔(Through Silicon Via,TSV)进行绑定后测试可以有效地提升三维集成电路的性能和良率。现有的测试方法虽然对于开路和桥接故障的测试能力较高,但是对于泄漏故障的测试效果较差,并且所需的总测试时间较长。对此,提出了一种基于分压电路的TSV绑定后测试方法。该方法设计了一种分压电路,进行泄漏故障测试时可以形成一条无分支的电流路径,有效提高了对泄漏故障的测试能力。此外,该方法测试开路故障和泄漏故障时的电流路径不会相互干扰,可以同时测试相邻TSV的开路故障和泄漏故障。实验结果表明,该方法可以测试10 kΩ以下的弱泄漏故障,并且在工艺偏差下依然能够保持较高的测试能力。相比同类测试方法,该方法所需面积开销更小,所需总测试时间更少。
刘军刘军陈田陈田
关键词:三维集成电路内建自测试
基于自振荡回路的电路老化测试方法
本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法,其特征是:根据静态时序分析和路径间相关性,选取待测电路中的老化特征通路集合T;保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非,形成自振荡的回路;采用固定型故障的测...
梁华国严鲁明蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田刘军
文献传递
基于多尺度卷积和自注意力特征融合的多模态情感识别方法
2024年
基于生理信号的情感识别受噪声等因素影响,存在准确率低和跨个体泛化能力弱的问题。对此,提出一种基于脑电(EEG)、心电(ECG)和眼动信号的多模态情感识别方法。首先,对生理信号进行多尺度卷积,获取更高维度的信号特征并减少参数量;其次,在多模态信号特征的融合中使用自注意力机制,以提升关键特征的权重并减少模态之间的特征干扰;最后,使用双向长短期记忆(Bi-LSTM)网络提取融合特征的时序信息并进行分类。实验结果表明,所提方法在效价、唤醒度和效价/唤醒度四分类任务上分别取得90.29%、91.38%和83.53%的识别准确率,相较于脑电单模态和脑电/心电双模态方法,准确率上提升了3.46~7.11和0.92~3.15个百分点。所提方法能够准确识别情感,在个体间的识别稳定性更好。
陈田蔡从虎袁晓辉袁晓辉
关键词:眼动多模态情感识别
低功耗测试研究进展被引量:2
2009年
随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明。
方芳王伟王伟王杰陈田
关键词:测试功耗低功耗芯片设计
一种容软错误的高可靠BIST结构
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误成为芯片失效的主导原因,文中给出一种容软错误的高可靠BIST结构:FT-CBILBO。该结构首先对并发内建逻辑块观察器(CBILBO)进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构...
黄正峰梁华国陈田詹文法孙科
关键词:软错误功能复用
文献传递
一种针对3D芯片的BIST设计方法被引量:7
2012年
提出了一种基于分层结构的内建自测试(BIST)设计方法—3DC-BIST(3D Circuit-BIST)。根据3D芯片的绑定前测试和绑定后测试阶段,针对3D芯片除底层外的各层电路结构,采用传统方法,设计用于绑定前测试的相应BIST结构;针对3D芯片底层电路结构与整体结构,通过向量调整技术,设计既能用于底层电路绑定前测试又能用于整体3D芯片绑定后测试的BIST结构。给出了一种针对3D芯片的BIST设计方法,与传统方法相比减少了面积开销。实验结果表明该结构在实现与传统3D BIST方法同样故障覆盖率的条件下,3D平面面积开销相比传统设计方法减少了6.41%。
王伟高晶晶方芳陈田兰方勇李杨
关键词:3D芯片内建自测试
一种3D SOC测试优化方法
  三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎.SOC技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个)芯片上,从而实现整个系统功能复杂的集成电路.以细粒度划分的3D SOC实现了真正意义上的3D芯核.它降低了单个芯核...
王伟李欣陈田刘军方芳吴玺
文献传递网络资源链接
片上网络中基于故障通道隔离检测的路由器容错方法
本发明公开了本发明提出了一种片上网络中基于故障通道隔离检测的路由器容错方法,使用故障通道隔离检测技术检测路由器中的通道故障,使故障检测不影响正常的数据传输;使用带回收指针的Buffer来暂存已传数据,用于故障通道中错误数...
欧阳一鸣陈义军黄正峰梁华国汪秀敏易茂祥陈田安鑫
文献传递
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法
一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法,其特征是将测试向量级联后,根据确定位的个数进行分段,使每段的长度正好是2的幂次数,而且每段所包含的确定位的个数都等于或者小于且最接近于一个确定的常数k,再通过线性反...
梁华国詹文法王保青蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田李扬刘军孙科
文献传递
共9页<123456789>
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