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何武良

作品数:9 被引量:29H指数:3
供职机构:中国工程物理研究院应用电子学研究所更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信核科学技术军事更多>>

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程
  • 1篇核科学技术
  • 1篇军事

主题

  • 2篇数据融合
  • 2篇目标识别
  • 2篇控制系统
  • 2篇PLC控制
  • 1篇多传感器
  • 1篇信号
  • 1篇信号分析
  • 1篇战场
  • 1篇失效判据
  • 1篇数据处理
  • 1篇数据融合算法
  • 1篇数据通信
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇随动
  • 1篇探测器
  • 1篇通信
  • 1篇图像
  • 1篇权因子
  • 1篇总剂量
  • 1篇总剂量辐射

机构

  • 8篇中国工程物理...

作者

  • 8篇何武良
  • 4篇李正东
  • 4篇郑晓东
  • 4篇裴春兰
  • 2篇成家源
  • 2篇彭文
  • 2篇张蓉
  • 2篇宋琛
  • 1篇聂文杰
  • 1篇陈盘训
  • 1篇谢泽元
  • 1篇陈兴无
  • 1篇高文明
  • 1篇叶一东
  • 1篇范国滨
  • 1篇张凯

传媒

  • 1篇光学精密工程
  • 1篇传感器技术
  • 1篇电子技术应用
  • 1篇工业控制计算...
  • 1篇光电工程
  • 1篇核电子学与探...
  • 1篇电子对抗

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
  • 1篇2002
  • 4篇2001
  • 1篇1993
9 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
PLC控制系统技术及应用
本文简单介绍可编程控制器的功能和特点及Porfibus现场总线技术,着重介绍了PLC技术在时序控制系统中的应用,该系统只有分散控制、集中监控、下位机的PLC与上位机的通信功能。
裴春兰何武良郑晓东张蓉
关键词:PLC现场总线数据通信
文献传递
一种利用多传感器进行目标识别的方法被引量:5
2001年
针对传统单传感器目标识别利用目标信息有限、识别结果可靠性不高等缺陷 ,提出一种利用多传感器进行目标识别方法 ,这种方法充分利用了目标多重特征的信息 ,并考虑了不同特征信息在目标识别中的重要程度 。
李正东何武良陈兴无
关键词:目标识别多传感器
量化目标威胁等级加权因子的确定
2002年
目标威胁等级评判是战场数据融合中决策系统进行系统资源分配或重分配的基础。本文在简述进行目标威胁等级评判步骤的基础上,详细说明了利用层次分析法(AHP)确定目标威胁等级加权向量的方法,实现了对目标威胁等级的量化评判。
李正东何武良
关键词:数据融合加权因子战场
利用小波变换进行目标识别的方法研究被引量:15
2001年
小波变换具有多分辨率的特点 ,并且这个特点呈Mallat塔形分解形式 ,这种分解方式和人们由粗到细 ,逐渐辨识图像的思维方式极其吻合。此外 ,小波变换还具有易于消除噪声、运算方便、能够体现图像特征点信息等优点 ,本文主要阐述一种基于小波变换这些众多优点上的目标图像识别方法。
李正东王晓菊何武良郑晓东成家源彭文裴春兰宋琛
关键词:小波变换目标识别信号分析目标图像
一种改进的数据融合算法被引量:5
2001年
目标脱靶量数据处理在目标跟踪中起着非常重要的作用,而传统的目标脱靶量数据处理通常是针对单传感器数据进行的。本文提出几种针对红外、雷达两种不同类型传感器目标脱靶量数据融合处理的方法,并通过三种方法的比较,得出一些有益的结论。
李正东何武良郑晓东宋琛彭文成家源裴春兰
关键词:目标跟踪数据处理最小二乘法数据融合算法雷达红外
随动光目标姿态控制系统被引量:1
2001年
介绍了随动光目标姿态控制系统的工作原理和实现方法。系统分别采用了四象限光电探测器和PSD光电探测器进行位置探测,对两种探测器性能做了比较。并分析了影响系统精度的主要因素。
张蓉聂文杰叶一东范国滨何武良张凯
关键词:光电探测器激光测量
微秒级PLC控制系统研制被引量:3
2007年
介绍一种特殊的PLC控制系统,应用西门子FM352-5布尔处理模块,产生微秒级脉冲信号,并能产生动态延迟的脉冲信号。
裴春兰何武良郑晓东
关键词:可编程控制器FPGA
双极晶体管总剂量辐射失效概率
1993年
对三种双极晶体管3DG4C、3DG6D和3DK9D(每种100只)作了失效概率P_F和γ总剂量D关系的研究。辐射实验表明,用Weibull分布可以较好地描述P_F和D的关系。取h(D)/h(O)=80%、70%、50%为器件失效判据,实验结果表明,失效分布曲线取决于失效判据。3DG6D的P_F~D曲线由两种斜率的直线组成,这意味着样品组中存在着不同工艺的器件。失效分布曲线斜率揭示了器件抗总剂量特性的均匀度。它可用来作为器件加固工艺的质量监督。当将P_F~D直线外推到低P_F区时,有些器件失效概率为0.1%和0.01%的失效总剂量仅为几十Gy。
陈盘训谢泽元高文明何武良
关键词:双极晶体管总剂量失效判据
共1页<1>
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