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刘鹏强

作品数:4 被引量:0H指数:0
供职机构:云南大学光电信息材料研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇理学

主题

  • 4篇量子
  • 4篇量子点
  • 4篇GE量子点
  • 2篇锗量子点
  • 2篇退火
  • 2篇温度
  • 2篇离子束
  • 2篇离子束溅射
  • 2篇溅射
  • 2篇SI
  • 1篇退火温度
  • 1篇扩散
  • 1篇SIO2
  • 1篇
  • 1篇掺杂
  • 1篇掺杂改性

机构

  • 4篇云南大学

作者

  • 4篇刘鹏强
  • 3篇王茺
  • 3篇杨宇
  • 1篇杨杰
  • 1篇周曦

传媒

  • 1篇功能材料

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
Si表面生长Ge量子点的研究进展
本文从两方面即材料本身的性质和生长过程中外界环境对Ge量子点生长的影响进行分析,回顾了近年来多种改善量子点尺寸、密度和均匀性的方法。为我们以后生长有序的Ge量子点提供了依据。
刘鹏强王茺杨宇
关键词:锗量子点掺杂改性退火温度
Si表面生长Ge量子点的研究进展
本文从两方面即材料本身的性质和生长过程中外界环境对Ge量子点生长的影响进行分析,回顾了近年来多种改善量子点尺寸、密度和均匀性的方法。为我们以后生长有序的Ge量子点提供了依据。
刘鹏强王茺杨宇
关键词:掺杂SIO2温度退火
文献传递
C诱导层温度对Ge/Si量子点溅射生长的影响
2014年
采用离子束溅射技术,通过改变诱导量子点形成的C层生长温度,在n型Si(100)衬底上自组装生长了一系列Ge量子点。利用AFM和Raman光谱对样品的表面形貌和结构进行了表征。实验结果表明,当C层的温度从600℃升高到700℃时,Ge量子点的密度逐渐降低,且结晶性变差;此时,量子点中的Si组分升高。当C层的生长温度从700℃升高到800℃过程中,Ge量子点的密度逐渐增大,结晶性也有所改善;此时,量子点中的Si含量降低。
刘鹏强王茺周曦杨杰杨宇
关键词:离子束溅射GE量子点扩散
C诱导层在Ge量子点溅射生长过程中的影响研究
利用FJL560Ⅲ型超高真空磁控与离子束联合溅射设备的离子束溅射室内制备Ge/Si量子点样品,以自组装Stranski-Krastanov(S-K)生长模式的热力学及动力学理论为基础,利用原子力显微镜(AFM)技术和Ra...
刘鹏强
关键词:离子束溅射锗量子点
共1页<1>
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