徐洋
- 作品数：8 被引量：58H指数：5
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- 一种使用缩颈外延获得低位错密度外延薄膜的方法
- 本发明公开了属于半导体材料制备技术领域的一种使用缩颈外延获得低位错密度外延薄膜的方法。该方法使用沉积、选择性外延和热氧化的制备方法制造出低位错密度的锗硅衬底和高迁移率沟道。可以在硅圆片上得到极低位错密度的薄膜，满足MOS...
- 赵硕梁仁荣刘佳磊王敬徐洋刘志弘许军
- 文献传递
- 局部放电偶发脉冲的测量、识别与记录方法被引量：2
- 2019年
- 近年来的研究表明电力设备中多种缺陷的局部放电都表现为偶发脉冲形式,这使得传统的用于连续脉冲局部放电的检测方法和报警机制不再适用。提出了用于偶发脉冲局部放电检测的脉冲激励测量方法,该方法利用偶发信号占空比低的特性,改变测量设备的数据采集和记录方式,能够有效地实现偶发脉冲的长时间高精度检测。在此基础上,提出了对偶发信号进行高精度空间时差定位和工频相位测量的方法,能够剔除现场环境下的脉冲型干扰,实现放电信号的实时筛选,从而提升监控报警系统的可靠性。
- 徐洋徐洋刘卫东
- 关键词：局部放电在线监测
- 使用粉尘图法测量交流电压下GIS绝缘表面电场电荷分布的影响因素研究被引量：13
- 2020年
- 粉尘图法是一种常用的绝缘表面电场电荷分布的测量方法,但其在应用时仍然存在一些局限性,且目前对于影响其使用效果的因素的研究也存在不足。本论文在实际的GIS支柱绝缘子模型上对粉尘图法的各项可能的影响因素进行了研究,并针对离线情况下使用粉尘图法时存在的不足,提出了在带电情况下使用粉尘图法测量绝缘表面电场电荷分布的方法。研究结果表明,交流电压下粉尘图法的作用效果受到粉尘种类、外施电压大小、绝缘气体种类和压强等多种因素的影响,在使用时必须严格控制实验变量;在带电情况下使用粉尘图法能够有效地反映绝缘表面的电场分布情况,具有重要的研究和应用价值。
- 徐洋徐洋刘卫东
- 关键词：GIS绝缘子表面电场表面电荷
- GIS局部放电特高频检测方法灵敏度的研究被引量：12
- 2018年
- GIS局部放电特高频UHF在线检测得到了广泛的实际应用,但对GIS绝缘子的闪络故障还缺少有效的预警能力,由此引起了对UHF检测方法灵敏度的极大关注。文中对一个实际GIS支撑绝缘子的实际局部放电进行了实验研究,结果表明,局部放电UHF检测方法确实存在灵敏度的死角。该支撑绝缘子的局部放电的脉冲电流陡度在很大的范围内变化,所产生的电磁波的频带也在很大范围内变化,但大部分局部放电的电磁波频率低于UHF频段,不能够被UHF检测方法有效检测。由此推断,在局部放电UHF检测中,严重的局部放电未必表现为高脉冲幅值和高脉冲频度,有可能被现有的诊断机制所忽略。
- 李晓徐洋王勇李星熊俊刘卫东
- 关键词：GIS绝缘子局部放电脉冲电流法
- GIS绝缘件局部放电脉冲电流互参考试验测量方法被引量：8
- 2018年
- 严格的绝缘件检测对于保证GIS(或GIL)设备的制造质量具有非常重要意义。GIS的绝缘件缺陷有可能表现为微小的和偶发的局部放电,采用常规的局部放电检测方法很容易被忽略。文中提出了GIS绝缘件局部放电脉冲电流互参考试验测量方法,采用多个绝缘件并联试验,同步测量每个绝缘件地线上的局部放电脉冲电流,根据各个绝缘件脉冲电流的幅值关系识别和区分绝缘子局部放电和干扰。绝缘件地线的局部放电脉冲电流测量还可以提高测量信噪比和灵敏度。此测量方法可以灵敏地发现绝缘件微小和偶发的局部放电。
- 徐洋刘卫东许渊李星李志兵张鹏飞
- 关键词：GIS局部放电脉冲电流法抗干扰
- 一种使用缩颈外延获得低位错密度外延薄膜的方法
- 本发明公开了属于半导体材料制备技术领域的一种使用缩颈外延获得低位错密度外延薄膜的方法。该方法使用沉积、选择性外延和热氧化的制备方法制造出低位错密度的锗硅衬底和高迁移率沟道。可以在硅圆片上得到极低位错密度的薄膜，满足MOS...
- 赵硕梁仁荣刘佳磊王敬徐洋刘志弘许军
- 文献传递
- 使用粉尘图法研究交流电压下典型GIS绝缘表面缺陷的电场电荷分布被引量：11
- 2020年
- 绝缘子在运行电压下产生表面不明原因的闪络是目前GIS安全运行领域面临的关键问题之一,这种闪络被认为很可能与绝缘表面缺陷导致的电场畸变和电荷积聚有关。笔者使用粉尘图法在离线和带电状态下对交流电压作用下的几种典型GIS绝缘表面缺陷,包括绝缘表面金属颗粒、金属尖端、绝缘表面打磨等引起的电场畸变和电荷分布进行了研究,并考虑了缺陷的各项参数对其作用效果的影响。研究结果对于确定不同缺陷导致的绝缘表面电场电荷分布变化,缺陷导致绝缘闪络的过程,以及微小缺陷的发现和诊断具有重要的实际意义。
- 徐洋徐洋刘卫东
- 关键词：GIS绝缘子表面电场表面放电
- GIS盆式绝缘子表面缺陷的局部放电检测被引量：15
- 2020年
- 盆式绝缘子是GIS设备中故障率较高的部件之一,尤其是盆式绝缘子的沿面闪络,对于GIS运行的安全性威胁极大。因此,对盆式绝缘子上可能引起故障的缺陷,特别是绝缘表面缺陷进行状态检测,以预防绝缘故障的产生,是现阶段研究的热点问题之一。文中以一个存在表面缺陷的实际GIS盆式绝缘子为例,使用多绝缘子对照方法测试了样品在高电压作用下的局部放电特性,并使用光电效应对实验结果进行了验证。根据实验结果对数据进行了分析,发现了放电伴随的光脉冲的强度与放电频率之间的相关性。文中的研究内容对于盆式绝缘子表面缺陷在现场的检测识别,以及绝缘子制造工艺的改进具有重要的参考意义。
- 徐洋徐洋丁登伟刘卫东刘卫东
- 关键词：GIS盆式绝缘子局部放电
