谢永乐
- 作品数：158 被引量：476H指数：13
- 供职机构：电子科技大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程机械工程更多>>
- 一种基于最高爆发压力的发动机失火诊断原理被引量：4
- 2001年
- 本文介绍了一种将作功冲程中最高爆发压力出现时刻附近瞬时角加速度的变化作为多缸机失火现象存在和分辨失大缸的判据的方法。这一方法降低了已有诊断方法中对高速数据采集硬件系统的要求。
- 谢三山谢永乐
- 关键词：故障诊断
- 数字集成电路可测性分析的一种软件实现
- 可测性分析用于指导数字系统的计算机辅助测试与设计。本文用面向对象程序设计语言构造描述集成电路的数据结构,论文详细介绍了数字电路的描述方法,给出了可测性分析算法,并将有向图的拓扑排序引入可测性分析程序设计,提高了可测性分析...
- 李景平陈光谢永乐
- 关键词：拓扑排序面向对象集成电路
- 文献传递
- 测量不确定度估计的极限费舍尔信息方法被引量：2
- 2016年
- 极限费舍尔信息(EFI)是源于极限物理信息理论下的一种信息测度。由于在测量实践中,很难一一准确且高效地定义与补偿所有影响测量结果的因素并估计测量不确定度。因此,该文提出了采用根据EFI推导的概率密度函数(PDFs)来估计被测量的测试边界信息,即待测系统的测量不确定度。该方法能够根据不同的不确定度影响因素以及待测系统的物理规则更加动态地刻画测量不确定性。从物理应用角度进行了详细的数理推导与讨论,相比不考虑物理意义的数学模型,该方法更适用于实际应用。最后,用两组实例验证了该EFI方法的有效性。
- 谢暄高乐吕珏李西峰谢三山谢永乐
- 关键词：测量不确定度参数估计可靠性
- 数字电路BST的测试矢量预装和响应提取
- 在IEEE 1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等。本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘...
- 陈希陈光谢永乐
- 关键词：数字电路测试
- 文献传递
- 模拟VLSI电路故障诊断的子带特征提取方法被引量：4
- 2007年
- 为了降低模拟电路参数型故障的测试难度,提出了一种基于奥克塔夫(Octave)-Haar小波结构的模拟VLSI电路故障诊断方法。将测试响应经小波滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列计算故障子序列与正常子序列的互相关系数,对每一故障,可确定出互相关系数最小的子带,并将此数值作为该故障的特征,对应子带的正常响应序列的自相关系数作为无故障特征,用故障特征与正常特征的对比可诊断故障。对国际标准电路的实验表明,该方法对参数型故障的诊断已具有高分辨率。
- 谢永乐李西峰
- 关键词：模拟电路测试故障诊断小波滤波器组相关系数特征提取
- VLSI流水化格型数字滤波器的内建自测试被引量：2
- 2007年
- 格型数字滤波器在信号处理领域得到了广泛应用,本文针对VLSI实现的流水化格型数字滤波器,提出了一种内建自测试方案,不需要对其内部基本功能单元作任何更改,且能在较短时间内检测所有的单固定型故障.所有测试序列都采用简单的算术运算产生.通过对已有功能模块如累加器的复用,作为测试序列生成和响应压缩,该方案能实现真速测试并最大程度的减少了硬件占用和系统性能占用.
- 杨德才谢永乐陈光
- 关键词：内建自测试可测性设计
- SRAM型FPGA数字时序电路在线检测容错系统及方法
- 本发明公开了SRAM型FPGA数字时序电路在线检测容错系统及方法。本发明中被检测容错的时序电路分割为组合逻辑和时序逻辑，分别先后对组合逻辑和时序逻辑进行三模冗余和多数表决掩盖故障，得到冗余时序电路；冗余时序电路在物理结构...
- 谢永乐张靖悉李西峰王林景孟劲松
- 文献传递
- 一种基于扩展性指数分布的锂电池剩余寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于扩展性指数分布的锂电池剩余寿命预测方法，针对电池预测寿命提出一种q_指数分布函数，q_指数分布函数包括两个参数：q_指数分布函数均值λ和分形参数q，分形参数q具有分形意义，表明系统的灵活性，均值λ表明...
- 李西峰谢暄李雪松毕东杰谢永乐
- 文献传递
- 一种MRI图像重构方法
- 本发明公开一种MRI图像重构方法；本发明方法综合考虑换变换域稀疏性与梯度域稀疏性，结合非均匀傅立叶变换建立压缩感知模型，并以交替方向乘子法为基础构建最小优化求解算法，得到MRI重构图像，与基于回溯线搜索的共轭梯度法和快速...
- 袁太文谢永乐毕东杰
- 文献传递
- 一种集成电路的故障检测方法
- 本发明公开了一种集成电路的故障检测方法。所述检测方法通过蒙特卡洛仿真逐一得到每个元件标称参数容差范围内的输出概率密度函数，并分别与各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算，得到互熵值；互熵值的最大数值者作为...
- 谢永乐李西峰周启忠毕东杰
