马彬
- 作品数：134 被引量：87H指数：5
- 供职机构：同济大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划上海市博士后基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程一般工业技术更多>>
- 一种LBO晶体表面镀膜前的清洗方法
- 本发明涉及一种LBO晶体表面镀膜前的清洗方法，将LBO晶体依次执行下述步骤：采用无水乙醇和乙醚混合液擦拭LBO晶体表面；采用弱碱性溶液对LBO晶体进行超声波清洗，所述弱碱性溶液包括NH<Sub>4</Sub>OH和H<S...
- 王占山焦宏飞钮信尚何宇鲍刚华马彬张锦龙程鑫彬
- 文献传递
- 一种超光滑表面熔石英光学基板超声波定量清洗方法
- 本发明涉及一种高损伤阈值激光薄膜用超光滑表面熔石英光学基板超声波清洗方法，属于光学技术领域。所述清洗方法包括以下步骤：在正式超声清洗前，运用旋涂1μm~3μm人工氧化硅小球的基板实验获得低频段80KHz超声频率对微米尺度...
- 丁涛沈正祥马彬程鑫彬焦宏飞张锦龙王占山
- 一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法
- 本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法，所述全口径偏振测量系统包括精密圆孔、反变迹滤光片、零级1/4波片、零级1/2波片、薄膜偏振片和两台高损伤阈值能量计；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对...
- 马彬侯志强李静赵一鸣王占山沈正祥何春伶颜冬月
- 一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置
- 本发明涉及一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置，所述的方法包括以下步骤：采用暗场照明，在线显微镜在泵浦激光辐照前对被测样品进行拍摄，获得图片a；计算机对图片a进行处理，分别识别出图片a中所有灰度高于阈值T<S...
- 马彬张艳云马宏平程鑫彬焦宏飞王占山
- 文献传递
- 三波长脉冲激光共同作用下损伤阈值测量装置和装调方法
- 本发明公开了一种三波长脉冲激光共同作用下损伤阈值测量装置和装调方法，所述测量装置将三波长激光分离，单独进行能量控制和光束汇聚，再经过与分光系统光程匹配的光束耦合系统确保三波长在时间上同步。利用准直激光、两个通光光阑，三波...
- 马彬沈正祥丁涛程鑫彬周刚焦宏飞张锦龙王占山
- 圆锥近似Wolter-Ⅰ型X射线望远镜用柱面反射镜面形误差检测方法被引量：3
- 2018年
- 基于热弯玻璃的圆锥近似Wolter-Ⅰ型X射线聚焦望远镜采用在凸柱面镜模具上热弯超薄玻璃的反射镜片制作方式,柱面镜低频面形误差和中频波纹度是影响望远镜聚焦性能的主要因素,因此高精度快速检测凹凸柱面镜中低频表面误差是研制中的关键技术。传统的柱面样板法无法检测超薄镜片,且只能检测对应样板半径的面形,检测效率低,无法满足要求。采用基于计算全息的零位补偿干涉检测法和激光扫描两种方法,对超光滑凸柱面模具和超薄凹柱面镜片进行快速定量检测,计算了两种检测方法的功率谱密度,通过表面的斜率误差拟合得到点扩散函数曲线和半功率直径。结果表明:两种方法都能够快速定量表征中低频表面误差对X射线望远镜角分辨率的影响,为提高反射镜制作精度和改善X射线望远镜聚焦性能提供了技术支撑。
- 刘娜沈正祥马彬魏振博徐旭东王占山
- 关键词：面形误差激光扫描
- 量子模型分析激光驻波原子透镜的像差被引量：3
- 2008年
- 采用量子模型对近共振激光驻波原子透镜会聚Cr原子束、形成纳米量级光栅结构的物理过程进行数值模拟。为提高原子透镜的成像质量,对各种像差,如衍射像差、球差、色差、及原子束发散角、原子磁支能级、原子同位素等因素引起的像差进行了理论分析。模拟结果表明,相比粒子光学模型,量子模型能更加精确地描述原子会聚结果,且能解释原子在驻波光场中的衍射现象。在各种像差中,原子束发散角是最主要的因素,其影响大于衍射像差、球差、色差。原子的磁支能级、同位素等因素对像差影响很小,可以忽略不计。激光冷却准直原子束的方法可以减小束发散角引起的像差,压缩原子速度Vz分布范围的方法可以减小色差。
- 赵敏王占山马彬李佛生
- 关键词：量子光学像差激光驻波场
- 大型市政交通工程的后评估及代建管理研究
- 在城市化的过程中，城市基础设施的投资、建设和管理是一项极为庞大的系统工程。本文对大型市政工程的后评估及代建管理进行了研究。文章对大型市政交通项目的后评估体系进行了探讨，对代建制这种体制和管理创新进行了论述;通过两个工程实...
- 马彬
- 关键词：市政工程后评估代建制
- 文献传递
- 一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法
- 本发明涉及一种测量双波长激光光束质量因子的装置及方法，所述装置包括待测倍频激光器、两个基准激光器、五个双波长反射镜、四个双波长分光镜、中性密度衰减片、部分反射镜组、电动滤光片转轮、两个快门、消色差透镜、光束质量分析仪和两...
- 马彬颜冬月赵一鸣李静王占山沈正祥何春伶潘俏菲
- 一种能谱仪探测深度的标定方法
- 本发明涉及一种能谱仪探测深度的标定方法，包括以下步骤：1)在熔石英基板上镀制厚度为d<Sub>0</Sub>的金属膜层，标记为I类样品；2)在金属膜层上分别镀制不同厚度的SiO<Sub>2</Sub>膜层，标记为II类样...
- 马彬韩佳岐王可程鑫彬王占山
- 文献传递
