周平南
- 作品数：17 被引量：75H指数：6
- 供职机构：上海交通大学材料科学与工程学院更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划上海市科学技术委员会资助项目国家重点实验室开放基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术金属学及工艺动力工程及工程热物理更多>>
- 高压燃油管开裂分析被引量：2
- 2005年
- 采用断口分析,金相分析和化学成分分析等方法,对高压燃油管开裂原因进行了分析。结果表明,宏观断口上有明显的贝纹线花样,微观断口上有典型的疲劳辉纹,表明高压燃油管的裂纹为疲劳裂纹。疲劳裂纹源产生于油管冷镦时内孔壁上留下的凹坑环残迹处,金相分析表明此处的显微组织严重变形,存在较大的内应力,是应力集中点。裂纹在此产生并扩展,直至穿透管壁而开裂。
- 周平南
- 关键词：冷镦
- 显微硬度实验的计算机模拟被引量：8
- 1995年
- 采用有限元分析法对块状材料和涂层／基底材料在显微硬度试验时表现的力学行为进行计算机模拟，分析在材料显微硬度试验时出现的若干现象，如基底对膜层硬度值的影响，为临界测试负荷的确定以及在微小负荷范围内，随着测试负荷下降，材料显微硬度普遍升高的负荷依存性等现象提供较满意的解释。
- 蔡珣周平南
- 关键词：显微硬度计算机模拟有限元
- 铸钢激光熔覆Ni-WC合金涂层的超显微硬度研究
- 1994年
- 本文运用UMHT－3型超显微硬度仪结合X射线衍射仪、EDAX能量损失谱仪对铸钢表面激光熔覆Ni-WC合金涂层的组织和性能进行了研究。结果表明：由表面到内部硬度值呈现较为复杂的变化，结合组织分析结果给出了解释。
- 杨晓豫周平南蔡珣
- 关键词：激光熔覆铸钢WC合金涂层谱仪
- 全文增补中
- 离子束增强沉积TiN薄膜界面结合强度的研究被引量：16
- 1997年
- 采用划痕法测定了离子束增强沉积ＴｉＮ薄膜的界面结合力。结果表明，由于在离子束增强沉积过程中ＴｉＮ薄膜和基体之间生成一层厚约３０～４０ｎｍ的过渡层，从而大大改善了涂层的界面结合强度，其临界载荷可达１４０Ｎ，为一般ＰＶＤ和ＣＶＤ方法所生成的ＴｉＮ膜的３～４倍，并且发现它并不随膜厚的增加而变化。
- 顾剑锋周平南杨晓豫
- 关键词：离子束增强沉积界面结合强度氮化钛
- 给水泵轴断裂失效分析被引量：4
- 2004年
- 采用断口分析、金相检验、力学性能测试和化学成分分析等方法,对服役10多天便发生断裂的给水泵轴进行了失效分析。结果表明,断口宏观上有明显的贝纹线花样,贝纹区面积较小,而瞬断区面积很大,其微观形态主要为疲劳辉纹,因此泵轴的断裂属早期疲劳断裂。而材料的显微组织中存在较多的呈带状分布的δ 铁素体和残余奥氏体,使材料强度偏低,这是引起泵轴早期断裂的主要原因。
- 周平南曾振鹏何平糜凯
- 关键词：给水泵轴Δ-铁素体
- 材料改性表层硬度测试时临界负荷的确定被引量：4
- 1993年
- 涂层硬度不仅取决于涂层材料本身,同时还与试验负荷和膜层的厚度密切相关。为了获得与基底材料无关的膜层的真实硬度,选择测试负荷时务必使压头下的塑变区局限在膜层内。因此,其测试时存在一临界测试负荷,也就是说,压痕深度t和膜层厚度D的比值(t/D)一般应小于0.1～0.2,而且此值随涂层—基体系统不同而异。
- 周平南蔡询张兮
- 关键词：涂层
- NiTi薄膜残余应力测试方法的探讨被引量：5
- 2007年
- 介绍了适用薄膜残余应力测量的弯曲法和X射线掠射法,重点介绍了一种新型测量薄膜残余应力的方法—纳米压痕法,并采用非球形压头纳米压痕法测量了NiTi薄膜的残余应力,对薄膜残余应力的测量进行了有益的探讨和尝试,结果表明纳米压痕技术可作为定性测量薄膜残余应力的有效手段。
- 周伟敏周平南吴廷斌
- 关键词：残余应力NITI
- 离子束增强沉积氮化硅薄膜的超显微硬度被引量：2
- 1995年
- 利用测试负荷小于10_(-2)N的UMHT-3型超显微硬度测量仪,测试了不同厚度的离子束增强沉积氮化硅薄膜的硬度。详细讨论了薄膜和基底对硬度测试的影响,并提出了临界负荷的概念。只有当测试负荷小于临界负荷时,才能获得薄膜的真实硬度。对三种不同厚度的氮化硅薄膜,给出了相应的临界负荷值。
- 周平南王建锋蔡珣
- 关键词：氮化硅
- 柴油机曲轴早期断裂的分析
- 2000年
- 柴油机曲轴在平台试车中 ,发生早期断裂失效。本文从曲轴的生产流程寻找 ,断轴的主要原因和改进措施。
- 周平南
- 关键词：柴油机曲轴
- 薄膜材料微观力学行为的有限元分析被引量：7
- 1998年
- 采用有限元法对材料表面改性层和薄膜材料在显微压入过程中的力学行为进行了计算机模拟。从所得的载荷与压入深度的关系曲线、压痕周围应力、应变场的大小和形状分布曲线等为依据，对在超显微硬度测试中基底材料及界面层的影响进行了详细的讨论，并得出：为排除基底材料的影响，通常规定压入深度（Ｄ）不得超过膜厚（ｔ）的１０～２０％的规则并不适用于所有薄膜系统。测试时，允许的Ｄ／ｔ的临界比值将随薄膜系统不同而异。对软膜硬基底系统而言，由于压头下的塑性应变区更多的是沿膜层的横向扩展，故Ｄｃ／ｔ允许大于上述规定值，而对硬膜软基底系统而言，则由于压头下的塑性应变区很容易扩展到基底材料中去，其Ｄｃ／ｔ值将小于上述规定值。
- 周平南杨晓豫等
- 关键词：有限元分析
