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张晓娜

作品数:4 被引量:5H指数:1
供职机构:西北工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家杰出青年科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇理学

主题

  • 4篇晶体
  • 3篇碲锌镉
  • 2篇探测器
  • 2篇退火
  • 2篇碲锌镉晶体
  • 2篇晶片
  • 2篇晶体退火
  • 2篇Γ射线
  • 2篇Γ射线探测器
  • 2篇布里奇曼法
  • 1篇偏析
  • 1篇碲化合物
  • 1篇位错
  • 1篇晶体质量
  • 1篇化合物
  • 1篇ZN
  • 1篇
  • 1篇沉淀相

机构

  • 4篇西北工业大学

作者

  • 4篇张晓娜
  • 3篇介万奇
  • 3篇李宇杰
  • 2篇谷智
  • 2篇李国强

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2005
  • 1篇2003
  • 2篇2001
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
Cd_(1-x)Zn_xTe晶体退火条件的选择及Zn压对退火晶体质量的影响被引量:5
2001年
采用传统Bridgman方法和加入acceleratedcruciblerotationtechnique的Bridgman(缩写为ACRT B)方法生长的Cd1 -xZnxTe(x=0 .0 4)晶体中存在有点缺陷、位错、杂质和Te沉淀等缺陷 .为了减少甚至消除这些缺陷 ,必须将生长后的CdZnTe晶片在Cd气氛下退火 .从Cd -Te和Cd0 .96 Zn0 .0 4Te的P T相图出发 ,详细讨论了CdZnTe晶体的气 固平衡条件 ,并以此为依据选择退火条件 ,对ACRT -B法生长的Cd0 .96 Zn0 .0 4Te晶体进行了退火实验研究 .实验结果表明 ,气氛中的Zn压在一定程度内高于平衡压力有利于晶体中多余Te向晶体表面扩散 ,即有利于消除Te沉淀 .但过高的Zn压会使晶体表面成分偏离原始的化学配比 .此时 ,晶体表面与气氛强烈的原子交换 ,将造成严重的表面损伤 ,形成一层结晶质量很差的表面层 .同时 ,Zn原子向晶内的扩散 ,抑制了退火过程中晶内杂质向晶体表面的扩散 .因此 ,在较低的Zn压下退火 (但仍处于气 固平衡范围内 ) ,能排除晶内杂质 .通过仔细研究不同条件下退火后晶片的结晶质量和断面成分分布 ,可以认为CdZnTe晶体的退火可分为去沉淀相退火、去杂质退火和均匀化退火几种 ,最佳的退火工艺应是多步骤。
李宇杰张晓娜介万奇
关键词:退火晶体
Ⅱ-Ⅵ族化合物晶体的缺陷分析与退火改性
该文首先研究了晶片的腐蚀过程,观察随腐蚀程序的逐渐加深,晶片表面缺陷蚀坑形貌的变化.实验发现:晶界和沉淀相蚀坑的出现要先于位错蚀坑的出现.对晶片内各种缺陷和性能进行了分析、测试,主要包括显微结构的观察、红外透过率的测定、...
张晓娜
关键词:碲锌镉位错沉淀相偏析退火
文献传递
碲锌镉晶体退火改性方法
本发明涉及一种碲锌镉晶体退火改性方法,本方法针对布里奇曼法生长的碲锌镉晶锭中切出的晶片,通过退火改性来提高晶片成分的均匀性和电阻率,达到制造X射线及γ射线探测器的要求。先选用原子百分比为Cd∶Zn=100∶1的金属液作为...
介万奇李国强李宇杰张晓娜谷智
文献传递
碲锌镉晶体退火改性方法
本发明涉及一种碲锌镉晶体退火改性方法,本方法针对布里奇曼法生长的碲锌镉晶锭中切出的晶片,通过退火改性来提高晶片成分的均匀性和电阻率,达到制造X射线及γ射线探测器的要求。先选用原子百分比为Cd∶Zn=100∶1的金属液作为...
介万奇李国强李宇杰张晓娜谷智
文献传递
共1页<1>
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