杨萌
- 作品数:15 被引量:33H指数:4
- 供职机构:清华大学更多>>
- 发文基金:国家重大科学仪器设备开发专项国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学文化科学电子电信一般工业技术更多>>
- 一种基于氢等离子体的固体样品化学蒸气发生进样方法
- 本发明公开了一种基于氢等离子体的固体样品化学蒸气发生进样方法。该方法包括如下步骤:将氢等离子体聚于待测固体样品上,经反应得到待测元素的化学蒸气。本发明中,氢等离子体直接作用于固体样品表面,与其中的元素进行化学反应生成元素...
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- 文献传递
- 氢等离子体诱导化学蒸气发生方法研究
- 化学蒸气发生方法由于其独特的优点一直是分析领域的重要方向,如可显著提高样品的进样效率,降低基体效应和提高检出限等。传统的化学蒸气发生方法主要有冷原子蒸气发生法、氢化物发生法、卤化物发生法、烷基化发生法和羰基化合物发生法等...
- 李铭杨萌邢志
- 关键词:氢等离子体化学蒸气发生原子荧光
- 低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞被引量:17
- 2012年
- 建立了低温等离子体(LTP)与原子荧光光谱仪(AFS)联用直接检测ABS固体样品中Hg的方法。实验采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体,剥蚀固体样品后产生的元素蒸气引入到原子荧光光谱仪进行检测。优化的实验条件为:DBD外接电源的放电功率为16~18 W,放电气体流速为400 mL/min;采样距离为1~5 mm;原子荧光光谱仪的原子化器高度为10 mm。本系统测定Hg的检出限为0.91 mg/kg,线性范围为91.5~1096 mg/kg;精密度(RSD,n=7)为1.9%~2.3%,并对标准样品以及实际样品进行测定,测定结果与标准值与ICPMS及CVG-AFS一致,表明本方法可作为直接检测固体样品的新型元素分析技术。
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- 关键词:低温等离子体介质阻挡放电汞原子荧光塑料
- 曾鲸肖像画艺术研究
- 杨萌
- 关键词:肖像画曾鲸
- 一种基于介质阻挡放电的固体样品剥蚀方法及装置
- 本发明公开了一种基于介质阻挡放电的固体样品剥蚀方法及装置。该方法包括如下步骤:工作气体在交流电场的作用下进行介质阻挡放电产生等离子体射流;所述等离子体射流聚于待测固体样品上即可对所述待测固体样品中的元素进行剥蚀。所述装置...
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- 一种基于介质阻挡放电的原子蒸气发生方法及装置
- 本发明公开了一种基于介质阻挡放电的原子蒸气发生方法及装置。该方法包括如下步骤:惰性气体和氢气的混合气体在交流电场的作用下进行介质阻挡放电产生等离子体;待测样品中的待测元素在所述等离子体的作用下形成原子蒸气。本发明提供的装...
- 邢志杨萌张四纯张新荣
- 低温等离子体剥蚀-电感耦合等离子体质谱联用对电路板镀层的深度分析被引量:1
- 2015年
- 建立了基于低温等离子体(Low temperature plasma)剥蚀系统将固体样品直接引入电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)并用于电路板镀层中Au,Ni和Cu的深度分析。此实验中采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体探针,逐层剥蚀样品表面,由ICPMS检测元素信号。对DBD所用放电气体种类、外加电场功率、放电气体流速和采样深度等实验条件进行优化。在优化条件下,应用LTP-ICPMS在30 s内完成电路板镀层(20μm Au/10μm Ni/Cu基底)的逐层剥蚀和深度分析,元素种类和分层顺序与X射线光电子能谱(XPS)相吻合,镀层的分辨率可拓展至微米水平,表明此技术可直接用于固体样品的深度分析。
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- 关键词:低温等离子体介质阻挡放电剥蚀电路板电感耦合等离子体质谱
- 基于微信公众平台构建仪器设备共享服务的“微实验室”被引量:10
- 2017年
- 基于微信公众平台构建了一个用于仪器设备共享服务的"微实验室",设计了微官网、微客服、微检测、微预约、微团测等多种功能,为实验室宣传、仪器开放、业务互动提供了更佳的方案。仪器设备共享服务的"微实验室"具有互动性强、工作流程简单、服务及时便捷、仪器共享度高、宣传性强等特点,弥补了现有仪器设备共享服务平台的不足。
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- 关键词:仪器共享
- 一种基于大气压冷等离子体诱导液体产生化学蒸气的方法
- 本发明公开了一种基于大气压冷等离子体诱导液体产生化学蒸气的方法。该方法包括:将冷等离子体与待测溶液进行反应,即得。本发明同样要求保护一种元素分析的方法。该方法包括:按照前述方法产生化学蒸气后,利用载气吹扫所述化学蒸气进入...
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- 文献传递
- 一种基于氢等离子体的固体样品化学蒸气发生进样方法
- 本发明公开了一种基于氢等离子体的固体样品化学蒸气发生进样方法。该方法包括如下步骤:将氢等离子体聚于待测固体样品上,经反应得到待测元素的化学蒸气。本发明中,氢等离子体直接作用于固体样品表面,与其中的元素进行化学反应生成元素...
- 邢志李铭杨萌