蔡彬
- 作品数：3 被引量：17H指数：2
- 供职机构：郑州大学材料科学与工程学院更多>>
- 相关领域：一般工业技术更多>>
- 银系红外低辐射膜的结构与光学性能分析被引量：6
- 2012年
- 采用直流磁控溅射法在玻璃基底上镀制了银系红外低辐射薄膜,实验结果表明,设计良好的多层薄膜在远红外区比单层银膜具有更好的反射性能,所制备薄膜的可见光透过率已达80%以上、远红外波段辐射率已降至0.11。用原子力显微镜(AFM)观测的结果表明,溅射在TiO2和NiCr膜上的厚约10nm的银层形成连续均匀的薄膜结构,而单层银膜在这样的厚度下一般以不连续的孤岛状形式存在;同时通过对样品的AFM形貌进行分析,得到该复合膜系表面的粗糙度有效值为1.03nm,可显著降低薄膜的光学吸收和光学散射作用,从而也有利于提高薄膜的可见光透射率和远红外反射率。
- 蔡彬辛荣生石帅哲林钰
- 关键词：磁控溅射银膜低辐射
- 纳米锐钛矿型TiO_2薄膜的制备及分析被引量：11
- 2011年
- 采用反应磁控溅射法在玻璃衬底上制备锐钛矿相TiO2薄膜,研究了工艺条件中的氧氩流量比对薄膜润湿角的影响以及溅射气压对薄膜微观结构的影响。对不同氧氩流量比(分别为1/40,1/20,1/10和1/5)时制备的TiO2薄膜进行润湿角测量,润湿角照片显明:氧氩比1/5时薄膜润湿角可减小到8°左右,即提高氧氩比能增强TiO2薄膜的自洁净性能。X射线衍射(XRD)分析表明:当溅射气压降到1.0 Pa时,可以得到锐钛矿型TiO2薄膜晶体,0.5 Pa时的XRD图衍射峰更为明显。用分光光度计测量了TiO2薄膜的紫外吸收光谱,由光谱曲线上光吸收阈值与半导体带隙之间的关系计算出了TiO2薄膜的禁带宽度为3.42 eV,表明TiO2薄膜的吸收边出现了一定的蓝移。根据XRD图谱计算TiO2薄膜的晶粒尺寸,得到的薄膜晶粒尺寸在十几纳米左右,由此说明了TiO2薄膜吸收边发生蓝移的原因;按照锐钛矿相TiO2薄膜XRD图25.3°衍射峰对应的(101)晶面,由Bragg方程计算出其晶面间距为0.3521 nm,表明TiO2薄膜晶体发生了一定的晶格畸变。
- 辛荣生林钰蔡彬胡斌
- 关键词：磁控溅射TIO2薄膜润湿角禁带宽度
- TiO/_2//NiCr//Au-Ag//NiCr//TiO/_2型复合膜的制备及其低辐射性能研究
- 离线低辐射/(Low-E/)薄膜凭借其优秀的光谱选择性而广泛应用于建筑领域。但是却存在膜层厚度难以把握,功能层稳定性差、易氧化、与基底粘附力弱等问题。本文以Drude模型为基础,使用特性矩阵计算TiO2//NiCr//A...
- 蔡彬
- 文献传递
