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郑雪峰
作品数:
227
被引量:72
H指数:6
供职机构:
西安电子科技大学
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国家自然科学基金
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相关领域:
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合作作者
郝跃
西安电子科技大学微电子学院微电...
马晓华
西安电子科技大学微电子学院微电...
何云龙
西安电子科技大学微电子学院宽禁...
王冲
西安电子科技大学微电子学院宽禁...
杜锴
西安电子科技大学
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2002
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基于栅场板和漏场板的垂直型功率器件及其制作方法
本发明公开了一种基于栅场板和漏场板的垂直型功率器件,其自下而上包括:肖特基漏极(11)、衬底(1)、漂移层(2)、孔径层(3)、两个对称的电流阻挡层(4)、沟道层(6)、势垒层(7)和栅极(10),沟道层和势垒层的两侧刻...
毛维
杨翠
艾治州
郝跃
郑雪峰
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基于p型氧化镍-氮化硅绝缘层-n型氧化镓结构的二极管及制备方法
本发明公开了一种基于p型氧化镍‑氮化硅绝缘层‑n型氧化镓结构的二极管及制备方法,主要解决现有肖特基二极管正向电流密度及反向击穿电压面向大功率下的应用效果差的问题。其由下至上包括阴极欧姆金属层、重掺杂氧化镓衬底、轻掺杂外延...
郑雪峰
洪悦华
潘嫒灵
何云龙
张翔宇
苑子健
马晓华
郝跃
结型栅-漏功率器件
本发明公开了一种结型栅‑漏功率器件,主要解决现有功率开关器件存在阈值电压低和实现高击穿电压时工艺复杂的问题,其包括:衬底(1)、过渡层(2)、势垒层(3)、栅槽(4)、漏槽(5)、P型层(6)、栅柱(7)、N型漏柱(8)...
毛维
高北鸾
杨翠
马佩军
张金风
郑雪峰
王冲
张进成
马晓华
郝跃
文献传递
基于垂直测试图形的有源区方块电阻测试方法
本发明公开了一种基于垂直测试图形的有源区方块电阻测试方法。其方案是:1.制备一组横向与纵向垂直交叉的欧姆接触测试图形,横向测试图形中包括第一电极、第三电极,纵向测试图形中包括第二电极、第四电极;设该横向与纵向测试图形的交...
郑雪峰
李小炜
侯晓慧
王颖哲
王奥琛
王冲
马晓华
郝跃
圆形电容结构的HEMT器件沟道区电场分布测量结构和方法
本发明公开了一种HEMT器件沟道区电场分布测试图形及其制备方法、测试方法,应用于圆形电容结构的HEMT器件,主要解决现有技术不能对HEMT器件沟道电场强度分布进行测量的的问题。其实现方案是:在待测HEMT器件上制作辅助测...
郑雪峰
马晓华
龚星星
张豪
王冲
吕玲
马佩军
郝跃
文献传递
一种低开启电压的氧化镓肖特基二极管制备方法
本发明公开了一种低开启电压的氧化镓肖特基二极管的制备方法,主要解决现有方法制作的氧化镓肖特基二极管的开启电压高的问题,其实现方案为:对氧化镓衬底进行清洗;对清洗后的氧化镓衬底表面进行表面修复的预处理,采用氢化物气相外延技...
郑雪峰
洪悦华
何云龙
张方
张翔宇
陆小力
马晓华
郝跃
一种基于场板和复合势垒层的GaN基肖特基势垒二极管
本发明涉及一种基于场板和复合势垒层的GaN基肖特基势垒二极管,包括衬底、位于衬底上的缓冲层和位于缓冲层上的沟道层;位于沟道层上的复合势垒层,包括第一势垒层、第二势垒层和第三势垒层;位于第一势垒层上的阴极;位于第二势垒层上...
郑雪峰
马晓华
郝跃
白丹丹
文献传递
表面态陷阱对器件输出特性影响的测量方法
本发明公开了一种表面态陷阱对器件输出特性影响的测量方法,主要解决目前无法单独测量表面态陷阱对器件输出特性影响的问题;其实现方案是:首先在被测器件的源极和漏极之间再新制作一个栅极,形成双栅结构;再测量器件的输出电流;接着对...
郑雪峰
王士辉
吉鹏
董帅帅
王颖哲
马晓华
郝跃
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加源场板耗尽型绝缘栅AlGaN/GaN器件结构及其制作方法
本发明公开了一种加源场板耗尽型绝缘栅AlGaN/GaN器件结构及其制作方法,所述结构包括衬底、本征GaN层、AlN隔离层、本征AlGaN层、AlGaN掺杂层、栅电极、源电极、漏电极、源场板、绝缘层、钝化层以及用于调节二维...
冯倩
杜锴
马晓华
郑雪峰
代波
郝跃
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一种测试MOS器件沟道不均匀损伤的方法
本发明公开了一种测试MOS器件沟道不均匀损伤的方法,主要解决现有技术难以定量分析沟道不均匀损伤效应的问题。其实现步骤是:1.设定器件的标准漏电流与标准低漏压;2.在标准低漏压下扫描栅压,得到漏电流达到标准值时的栅压V<S...
曹艳荣
杨毅
郝跃
马晓华
田文超
许晟瑞
郑雪峰
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