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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇入射
  • 1篇入射角
  • 1篇隧道结
  • 1篇自旋
  • 1篇自旋相关
  • 1篇膜厚
  • 1篇巨磁电阻
  • 1篇菲涅尔公式
  • 1篇白光干涉
  • 1篇半波损失
  • 1篇薄膜厚度
  • 1篇磁电
  • 1篇磁电阻
  • 1篇磁隧道结

机构

  • 3篇闽江学院

作者

  • 3篇鄢仁文
  • 1篇张岱宇
  • 1篇李雪梅
  • 1篇陈胜钰
  • 1篇沈耀国
  • 1篇周汉枢

传媒

  • 1篇福建师大福清...
  • 1篇闽江学院学报
  • 1篇科技信息

年份

  • 2篇2009
  • 1篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
半波损失的分析被引量:2
2007年
从电磁场理论菲涅尔公式出发,分析并得到半波损失产生的条件.指出只有在垂直入射和掠入射两种情况下,从光疏媒质入射到光密媒质界面时,反射光具有半波损失.对一般斜入射讨论半波损失的概念没有任何意义.
陈胜钰鄢仁文李雪梅
关键词:菲涅尔公式半波损失入射角
磁隧道结机理及其应用研究被引量:2
2009年
本文主要概述了磁隧道结的机理,可知隧道结电阻的产生并非源于传导电子自旋相关散射,而是自旋相关遂穿过程。在此基础上,介绍了该材料的应用。
沈耀国鄢仁文张岱宇
关键词:磁隧道结巨磁电阻自旋相关
迈克尔逊干涉测薄膜厚度被引量:5
2009年
利用迈克尔逊干涉原理测量薄膜厚度的方法,以测量PE保鲜膜和透明塑料膜为例,采用白光干涉产生的彩色条纹来精确测量薄膜的厚度,通过采集干涉产生的实验数据,计算出薄膜的厚度,这是一种实用有效的方法。此方法的测量范围为1μm~1cm,测量精度为0.1μm。
鄢仁文周汉枢
关键词:白光干涉薄膜厚度
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