李坤兰
- 作品数：7 被引量：24H指数：4
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信环境科学与工程自然科学总论更多>>
- 几种电子元器件长期储存的失效模式和失效机理被引量：4
- 2000年
- 通过对几种元器件长期储存期间的失效进行分析，探讨了这几种元器件的失效模式及其失效机理。
- 李坤兰
- 关键词：电子元器件失效模式
- 储存试验站的温湿度特征分析研究
- 2007年
- 从温湿度的变化趋势、年较差、极端最高值、极端最低值等方面分析研究了储存试验站(长春、无锡、广州、西沙和拉萨)从1995-2005年的监测数据。结果表明,5地的温度变化趋势基本一致,而湿度变化趋势则不同。年较差最大的是长春,最小的是西沙。极端最高温度最高的是无锡;极端最低温度最低的是长春。广州的极端最高湿度最大;拉萨的极端最低湿度最小。5地的温湿度在变化趋势上有相似之处,但更多的是差异性。因而,在进行环境应力的信息开发应用时,应综合考虑温湿度多方面的特性。
- 李坤兰
- 关键词：温湿度年较差
- 应用GM(1,1)模型研究军用电子元器件的长期贮存寿命被引量：6
- 2005年
- 现代武器装备“长期贮存,一次使用”的特性,要求装备的各个部件和元器件都具有良好的环境适应性与长期贮存寿命。根据灰色系统理论,以某电阻器为例,应用GM(1,1)模型及其改进模型预测了其长期贮存寿命,所建立的模型具有较好的精度,有一定的参考价值。实践证明:灰色预测方法简单、实用,具有一定的工程应用价值。
- 杨少华吴福根黄瑞毅李坤兰
- 关键词：电子元器件
- 长期储存试验中敏感参数的灰色优势评价模型
- 2005年
- 针对储存试验样品量少和影响因素多等特征,通过对灰色优势分析进行研究,利用优势分析的优点,建立了储存试验敏感参数评价的优势评价模型,并将其应用于某类元器件的储存敏感参数的评价中。评价的结果表明:温度差为该种元器件最优影响因素,灯丝电流则为其储存试验中的敏感参数。
- 李坤兰
- BP神经网络在元器件非工作可靠性参数预测中的应用被引量：9
- 2005年
- 应用神经网络模型对某电子元器件在非工作状态时的可靠性性能参数时间序列进行预测,并与自回归模型预测结果进行了比较。检验结果表明,神经网络预测模型有较高的精度,具有很好的实用价值。
- 黄瑞毅杨少华李坤兰吴福根
- 关键词：神经网络
- 贮存环境对某型霍尔电路性能参数的影响研究被引量：1
- 2015年
- 在A(寒温)、B(亚湿热)、C(亚湿热)、D(热带海洋)4地的库房内对某型霍尔集成电路开展了为期17年的库房贮存试验,跟踪测试了该型霍尔集成电路的高电平-低电平磁感应强度(工作点)BH-L、低电平-高电平磁感应强度(释放点)BL-H和回差BH等性能参数,并应用T-检验法对4地贮存环境对样品的性能参数的影响进行了分析研究,结果表明各地贮存环境条件对样品的性能参数的影响各不相同。
- 李坤兰王首臻杨少华
- 关键词：性能参数
- 光电耦合器的长期贮存退化特性分析被引量：5
- 2013年
- 介绍了某光电耦合器在自然条件下的贮存退化特性,长期贮存14年后出现了电流传输比和集电极暗电流等性能参数退化失效。其性能参数退化的原因为内部水汽含量高、胶体开裂。该试验结果对于贮存寿命设计和贮存延寿工程有一定的参考价值。
- 杨少华李坤兰
- 关键词：光电耦合器
