沈理
- 作品数：31 被引量：189H指数：8
- 供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程自然科学总论更多>>
- Verilog RTL模型被引量：5
- 2002年
- VLSI集成电路芯片测试技术正在向高层次测试推进 .针对Verilog硬件描述语言 ,提出了一种在寄存器传输级 (registertransferlevel,RTL)上的电路模型VRM .该模型着重于实际应用 ,可输出文本格式文件 ,便于开发实用的RTL级故障模拟和RTL级测试生成等软件 .基于该模型 ,还实现了一个简单的RTL逻辑模拟程序以验证VRM模型的可行性 .
- 沈理
- 关键词：VERILOG硬件描述语言逻辑模拟集成电路芯片芯片测试
- RTL集成电路的时序深度
- 2002年
- 在高层次测试生成中 ,为了更好地利用高层次电路的结构信息 ,以Verilog硬件描述语言描述的电路为研究对象 ,提出寄存器传输级 (RTL)集成电路的静态时序深度和动态时序深度概念 .从静态、动态两方面出发度量语句的执行效果和程序运行的时序关系 ,并结合实例分析了二者在高层次测试生成中的应用 .高层次行为信息的提取也将为高层次设计和验证提供方便 .
- 高燕沈理
- 关键词：硬件描述语言芯片设计
- 基于遗传算法的Fuzzy规则自动获取的研究被引量：21
- 2000年
- 为了实现 Fuzzy规则自动获取 ,进而构造高性能智能系统和解决智能系统的瓶颈问题 ,研究了利用遗传算法自动获取规则的方法以及遗传算法的组合优化能力 .模拟结果表明 ,这是一种有效地获取 Fuzzy规则的方法 .
- 陈明王静沈理
- 关键词：遗传算法FUZZY规则人工智能
- 一种快速模糊推理系统被引量：8
- 2002年
- 提出一种新的模糊推理系统，其模糊知识库具有紧致模糊规则库，即规则集为仅存储规则后件的完全规则集．推理过程中可以根据当前输入信号值直接寻址被激励的模糊规则，从而只是有选择地执行被激励的规则．其优点是可以提高模糊推理速度，减少规则库存储容量．针对模糊芯片的ＶＬＳＩ实现，提出了可以根据输入信号值直接寻址被激励规则的电路．
- 沈理
- 关键词：模糊逻辑模糊推理系统模糊控制人工智能超大规模集成电路
- 基于双属性图表示的通用人脸图像识别系统被引量：5
- 2001年
- 该文提出一个通用的人脸图像识别系统 GFRS[1 ] ,对于人脸库中每个待识目标只存储一幅图像的情况下 ,可以实现各种干扰条件下人脸图像的识别 .该系统提出使用双属性图来表示人脸图像 ,首先利用逐步求精定位法得到人脸图像各局部特征点的位置 ,图中每个特征点由两个特征属性来描述 ,即局部主成分特征系数和 Gabor变换特征系数 ,从而构造了双属性图 .然后给出双属性图匹配函数。
- 熊志勇沈理
- 关键词：GABOR变换计算机
- 遗传优化模糊逻辑控制器被引量：9
- 1997年
- 一、引言 模糊逻辑控制器(FLC)已经广泛应用于工业过程、家电、运动控制中。典型的lC由四部分组成:摸糊化器、规则集、推理机和反模糊化器。FLC作为一种万能逼近器,适合控各类非线性的。
- 胡炜沈理
- 关键词：模糊逻辑控制器控制器
- 基于von-Kries色适应的分区颜色校正方法被引量：12
- 2007年
- 通过定性分析Munsell色样集在不同光源下的von Kries校正系数随色样不同而变化的现象,本文提出了一种按照图像所属区域类型调整von Kries系数的颜色校正方法,并给出了区域判定规则及各区域von Kries系数确定方法。在GCCD测试数据集上的实验结果表明,该方法有较好的效果。
- 朱贵冬沈理王今觉
- 模糊控制开发系统FDS100的面向对象软件构造被引量：6
- 1997年
- ＦＤＳ１００系统为用户使用模糊控制推理芯片Ｆ１００及其电路板提供了一个完整的集成开发环境．为使开发系统具有更好的外部因素，采用了面向对象式的软件构造，以增强软件系统的可扩充性和可重用性．本文描述ＦＤＳ１００系统中类的抽象、派生、继承、重载、封装。
- 周平沈理
- 关键词：面向对象程序设计可重用性
- 基于外推跟踪的眼部白睛血管自动提取方法被引量：4
- 2005年
- 提出了一种从中医“望目辨证”眼部图像提取血管的方法。首先利用最优阈值分割和形态滤波,提取白睛区域,且动态设置等距扫描线并在其上寻找血管跟踪初始点。跟踪时通过探测当前中心点两侧边缘点走向,结合血管剖面分析,动态地调整跟踪向量的方向和长度。血管提取可自动进行,并可处理曲率和直径呈非渐进变化的血管形态。
- 朱贵冬沈理王今觉
- 关键词：医学图像处理
- VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计被引量：8
- 2003年
- CMOS器件进入深亚微米阶段,VLSI集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在制造、设计、封装、测试上都面临新的挑战。测试已从IC设计流程的后端移至前端,VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分。本文介绍近几年来VLSI芯片可测试性设计的趋势,提出广义可测试性设计(TDMS技术)概念,即可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计,并对可调试性设计方法学和广义可测试性设计的系统化方法作了简单介绍。
- 沈理
- 关键词：VLSI芯片可测试性可制造性可维护性超大规模集成电路
