赵彦飞
- 作品数：16 被引量：14H指数：2
- 供职机构：中国运载火箭技术研究院更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- 一种功率器件测试装置
- 本发明公开了一种功率器件测试装置。该功率器件测试装置包括：上层电路板、铝壳体和下层电路板；上层电路板至少包括：第一开关、至少三个继电器、控制模块和开尔文测试插座；三个继电器分别为第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继...
- 于望温景超熊耀斌赵彦飞李明明刘思嘉王宇刘开李泱阮磊胡涵
- 大功率电源转换器测试平台的设计
- 2019年
- 随着我国航天高速发展,电气系统电源架构和技术指标趋于多样化,作为核心元器件之一的电源转换器为电气系统提供高精度电压和大负载,其使用数量大幅增加。电源转换器呈现出电压、电流范围广、引脚接口多样化、精度与质量可靠性要求高等特点,逐渐暴露出传统测试平台在大功率电源转换器方面的测试问题,主要表现为测试精度低。通过高性能接口创新设计研究工作解决大功率电源转换器结构复杂、引脚接口多样化、电压高、电流大、精度高等检测难点,实现准确高效测试评价。
- 赵彦飞温景超刘思嘉于望
- 关键词：电源转换器大功率
- 基于液压模型的功率MOSFET有效输出电容测试方法被引量：1
- 2019年
- 输出电容是影响功率MOSFET开关损耗的重要参数.在开关应用中,根据输出电容Coss来确定器件的开关损耗具有一定的局限性.为了准确地评估器件的开关损耗,研究了功率MOSFET的有效输出电容Coer和Cotr及其测试方法.首先,以液压模型理论为基础阐述了器件参数Coer和Cotr的具体含义,并完成相应的测试电路设计.然后,建立了基于测试电路的数值计算模型;为了保证测试精度,模型中充分考虑了电压测试电路产生的负载效应.最终,采用该方法对器件的有效输出电容进行测试和计算.实验结果表明,该测试方法能对功率MOSFET的有效输出电容进行可靠测试.
- 温景超李旭红赵彦飞于望袁赵详
- 关键词：功率MOSFET开关损耗测试电路
- 数模转换电路中的线性参数测试方法分析
- 2024年
- 阐述由于数模转换器的输出为模拟量,其线性参数的测试无法像模数转换器一样可以直接用统计学的方法获取。为此,分析几种适用于数模转换器线性参数的测试方法,并结合航天用元器件的特点,总结不同测试方法的测试要求。
- 刘思嘉郭焕焕熊耀斌何忠名赵彦飞汪翔
- 关键词：数模转换器模数转换器
- 光子集成电路发展综述被引量：2
- 2019年
- 光子集成电路是推动光通信网络发展的关键技术。值此光子集成电路(PIC)的概念提出50周年之际,回顾使光子集成电路取得成功的基础性工作,以及从早期的InP PICs到如今的全集成多通道密集波分复用(DWDM)片上系统(SoC)PICs的发展历程。讨论当前最先进的商业多通道SoC PICs,展望了光通信领域InP PICs的主要发展趋势。
- 温景超李旭红李泱赵彦飞袁赵祥
- 关键词：光子集成电路接收器发射器密集波分复用光通信
- 元器件长期储存可靠性规律研究被引量：1
- 2021年
- 阐述进口元器件的超期使用引出的电子产品可靠性问题,分析进口元器件长期储存后出现的失效状况,电子元器件长期储存的可靠性规律,从而对元器件的长期储存以及超期质量控制提出建议。
- 于望温景超刘开何忠名胡涵赵彦飞
- 关键词：电子元器件
- 叠层封装元器件在航天领域中的应用被引量：1
- 2022年
- 分析表明,在航天领域,为适应单机产品小型化的要求,叠层封装的存储器已经得到了广泛应用。阐述PoP结构的元器件具有集成度高、小型化、轻量化的优点,在航天领域对产品的可靠性的更高要求,探讨PoP结构元器件,分析它的热负载和振动可靠性,提出有针对性的可靠性试验项目。
- 刘开刘思嘉于望温景超赵彦飞熊耀斌
- 关键词：电子器件可靠性
- 多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法
- 本发明涉及元器件可靠性技术领域，具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为：1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验，获得该电容器电容量退化线性曲线；2、根据退化数据，获得在预设时间内电容量的退...
- 彭磊刘泓熊盛阳杜红焱孙淑英官岩赵彦飞汪翔吴立强邬文浩张爱学高憬楠林德建
- 文献传递
- 仪表放大器参数特性分析与测试方法研究被引量：3
- 2023年
- 仪表放大器在各个测量系统中均有着十分广泛的应用,对其进行测试和筛选能够有效地剔除其中的不合格品和早期失效产品,防止给系统造成进一步损失。目前仪表放大器暂无相应的测试标准,通常将其作为运算放大器接入运放环中进行测试,导致部分电性能参数难以测试和筛选。本文通过对仪表放大器的结构原理和参数特性进行分析研究后,提出了一种基于ATE与外接高精度数字多用表联合测试的方法。实验结果表明,该方法能够实现仪表放大器较为全面且高精度的测试,在元器件质量与可靠性保证方面具有良好的应用价值。
- 何忠名赵彦飞李明明于望刘江城
- 关键词：仪表放大器ATE集成电路测试
- 基于光学干涉法的翻新电子元器件鉴别方法被引量：4
- 2020年
- 翻新电子元器件存在重大质量隐患,对航天装备的质量和安全构成了严重威胁。为了确保装机电子元器件的质量和可靠性,结合翻新元器件的特点,提出了一种鉴别翻新元器件的无损检测方法。首先,阐述了翻新元器件的检测方法和原理,即通过光学干涉法定量测量器件上下表面的粗糙度,并根据二者之间的差异来判断器件表面是否经过翻新处理。然后,采用该方法对正常元器件和翻新元器件的表面粗糙度差异进行对比检测分析,并进行不确定度评定。结果表明,该方法可用于对翻新元器件进行高效准确鉴别。这为全面提升航天电子元器件的质量提供了新的检测手段。
- 温景超吴立强赵彦飞于望
- 关键词：表面粗糙度无损检测
