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刘天增

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇专利

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇电路
  • 3篇电路测试
  • 3篇图形发生器
  • 3篇集成电路
  • 2篇微处理器
  • 2篇集成电路测试
  • 2篇测试系统
  • 2篇处理器
  • 1篇电路测试系统
  • 1篇集成电路测试...
  • 1篇VLSI
  • 1篇CPU
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  • 1篇测试装置
  • 1篇超大规模集成
  • 1篇超大规模集成...
  • 1篇大规模集成电...

机构

  • 3篇北京自动测试...

作者

  • 3篇刘天增
  • 2篇张东
  • 2篇张生文
  • 1篇张东

传媒

  • 1篇集成电路应用
  • 1篇北京市纪念中...

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2003
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
新图形发生器、新测试方法的VLSI测试系统
本文详细阐明“基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置”的四个要点,尤其是数字电路测试码的自动生成。
刘天增张东
关键词：图形发生器微处理器集成电路电路测试
文献传递
新型图形发生器的集成电路测试系统
2003年
集成电路产业是国家综合竞争力的重要标志,也是维护国家经济和国防安全的关键核心。近五年来我国集成电路产业年均增长27%,呈现出前所未有的大好形势。集成电路测试业是集成电路产业链中重要的组成部分,不断地研发出适合中国国情的集成电路测试系统是测试业的重要使命。
张东刘天增张生文
关键词：图形发生器集成电路测试系统CPUDSP
基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置
一种集成电路测试装置，包括对整个测试装置进行控制的计算机、图形发生器、管脚电路，其中图形发生器为高档微处理器。计算机、图形发生器、管脚电路分别与总线相连接，图形发生器通过管脚电路与被测集成电路相连接。本集成电路测试装置在...
刘天增张东张生文
文献传递
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