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蒋登峰

作品数:21 被引量:5H指数:1
供职机构:杭州士兰微电子股份有限公司更多>>
相关领域:自动化与计算机技术机械工程更多>>

文献类型

  • 20篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇机械工程

主题

  • 10篇感器
  • 10篇传感
  • 10篇传感器
  • 7篇电路
  • 6篇校准
  • 5篇电流
  • 5篇电流测试
  • 5篇校准装置
  • 5篇集成电路
  • 5篇半导体
  • 5篇半导体传感器
  • 5篇测试装置
  • 4篇寄存器
  • 4篇测试座
  • 3篇电路测试
  • 3篇多路
  • 3篇多路选择开关
  • 3篇选择开关
  • 3篇移位器
  • 3篇噪声

机构

  • 21篇杭州士兰微电...
  • 1篇中国计量学院

作者

  • 21篇蒋登峰
  • 15篇魏建中
  • 11篇张波
  • 6篇符强
  • 3篇邓登峰
  • 3篇吴欢欢
  • 1篇周娟

传媒

  • 1篇中国计量学院...

年份

  • 1篇2021
  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 5篇2015
  • 5篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2010
21 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
用于加速度计校准与测试的转台系统
公开了一种转台系统,用于加速度计的校准和测试,所述转台系统包括:主轴;主轴电机,用于产生主轴的转动;校准测试平台,所述校准测试平台固定于所述主轴上,用于为转动盘和转动盘电机提供固定平台;以及至少一个安装于所述校准测试平台...
吴欢欢符强蒋登峰魏建中
文献传递
半导体传感器输出噪声检测装置和方法
公开了一种半导体传感器输出噪声检测装置和方法,所述装置包括:检测接口,用于连接待检测传感器,向处理器传输所述待检测传感器测量获得的待检测测量值;参考传感器,用于根据外部物理量输出参考测量值;处理器,分别与所述检测接口和参...
蒋登峰张波魏建中
文献传递
一种集成电路仿真测试向量信号产生装置
为实现数字集成电路在设计时就进行实际状态测试,而无需使用专门的测试机,本实用新型公开了一种集成电路仿真测试向量信号产生装置,它包括上位机、测试向量信号发生主板和PCI-E接口模块,所述测试向量信号发生主板包括FPGA,用...
张波蒋登峰魏建中
文献传递
一种通用测试设备
本实用新型提供了通用测试设备,其GUI模块从存储器中调用寄存器描述文件,并进行解析,通过GUI模块进行下列操作的一种或几种:(1)读操作:测试模块发出读操作命令,被选中的通用通讯模块模拟并发出相应的接口时序,被测试集成电...
蒋登峰魏建中
文献传递
等离子扫描驱动芯片测试装置
本发明公开了一种涉及集成电路测试领域的等离子扫描驱动芯片测试装置,包括主处理器、数字逻辑模块、芯片供电模块、多路选择开关、功率管脚测试模块和显示终端,可用于进行PDP芯片的静态电流测试、工作电流测试、串行移位器功能测试、...
符强蒋登峰魏建中
传感器校准装置和方法
本发明提供了传感器校准装置和方法,该装置包括:I2C接口,其经由I2C信号线连接至传感器;以及校准模块,其经由该I2C接口与传感器通信,该校准模块包括:校准内核,其能向传感器提供校准值以校准传感器的输出;起始值寄存器,其...
张波蒋登峰邓登峰
文献传递
用于惯性传感器的测试装置及方法
本发明提出了一种测试装置,根据外部的上位机的测试指令测试待测对象,并且将测试数据传送至上位机,所述测试装置包括:控制器,用于控制测量和通信过程;无线通信模块,用于从上位机接收测试指令和向上位机传送测试数据;测试座,用于放...
蒋登峰张波魏建中
文献传递
半导体传感器校准装置、系统和方法
公开了一种半导体传感器校准装置、系统和方法,所述半导体传感器校准装置包括:测试座,用于连接待校准半导体传感器,向处理器传输待校准半导体传感器测量获得的待校准测量值;参考传感器,用于根据外部物理量获取参考测量值;非易失性存...
张波蒋登峰魏建中
文献传递
测试路径选择方法及相应的晶片测试方法
本发明提供一种测试路径选择方法,包括:在提供的一晶片形成有效管芯和无效管芯;形成晶片映射图;在晶片映射图上根据晶片的有效管芯和无效管芯的位置标示出有效管芯和无效管芯的位置;在晶片映射图的管芯上将一多电路块针卡图重复排列并...
蒋登峰
文献传递
用于加速度计校准与测试的转台系统
公开了一种转台系统,用于加速度计的校准和测试,所述转台系统包括:主轴;主轴电机,用于产生主轴的转动;校准测试平台,所述校准测试平台固定于所述主轴上,用于为转动盘和转动盘电机提供固定平台;以及至少一个安装于所述校准测试平台...
吴欢欢符强蒋登峰魏建中
共3页<123>
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