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文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 3篇电路
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  • 1篇并行测试
  • 1篇测试资源

机构

  • 3篇北京华大泰思...

作者

  • 3篇肖钢
  • 3篇柳炯
  • 3篇刘炜
  • 3篇赵伟
  • 2篇孙杨
  • 2篇王慧
  • 2篇石志刚
  • 2篇李尔
  • 2篇张琳
  • 2篇孙博
  • 2篇赵智昊
  • 2篇吉国凡
  • 2篇金兰
  • 1篇王峥

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
文献传递
集成电路并行测试适配器
本实用新型提供了一种集成电路并行测试适配器,包括主机板、支架,其中主机板为多层板,其层间结构和线宽、线距符合阻抗匹配规则的规定;在所测试的各个芯片的地线之间具有隔离线,并且各个芯片的各对应I/O通道中,存在等长的I/O通...
肖钢王峥赵伟柳炯刘炜
文献传递
一种自动下载集成电路序列号码的方法
本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法,包括如下的步骤:(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息;(2)按照预定的编码方式,将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
文献传递
共1页<1>
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