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潘伟伟

作品数：7 被引量：1H指数：1
供职机构：浙江大学更多>>
相关领域：电子电信文学更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 3篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇文学

主题

  • 4篇电路
  • 4篇信号
  • 4篇寻址
  • 4篇可寻址
  • 4篇测试信号
  • 3篇版图
  • 3篇版图设计
  • 2篇译码电路
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片面积
  • 2篇划片
  • 2篇集成电路
  • 2篇记忆体
  • 2篇共享
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体生产
  • 2篇半导体生产线
  • 1篇电路制造
  • 1篇性灵
  • 1篇休闲

机构

  • 7篇浙江大学
  • 2篇杭州广立微电...

作者

  • 7篇潘伟伟
  • 2篇郑勇军
  • 2篇史峥
  • 2篇邵康鹏
  • 2篇严晓浪

年份

  • 1篇2013
  • 3篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2010
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
性灵与休闲——袁枚自在生命的审美超越
在清代，袁枚以“性灵说”自成一派，其重情重趣的审美和文学观念具有超越传统的突破性意义和影响。本文以性灵说为切入点，进而探讨袁枚的休闲的思想和智慧，解读其自在生命的审美超越。　　 袁枚本性是诗人，热爱自由、不喜束缚。为了...
潘伟伟
关键词：休闲学审美超越文学观
文献传递
纳米工艺集成电路可寻址测试芯片的设计方法研究
测试芯片作为集成电路制造工艺提取工艺器件参数，评估工艺设备性能，制定版图设计规则，检测工艺缺陷以及评估产品可靠性的重要手段，对缩短工艺开发周期、提升成品率起着重要的作用。随着集成电路进入纳米工艺时代，复杂的制造工艺对测试...
潘伟伟
关键词：集成电路可寻址版图设计
文献传递
一种放置在划片槽内的改进型可寻址测试芯片及制作方法
本发明公开了一种放置在划片槽内的改进型可寻址测试芯片，包括用于产生输出行列选信号的周围地址译码电路、若干用于控制测试信号进入测试结构的信号选择电路组和若干用于放置测试结构的测试单元。本发明还公开了一种放置在划片槽内的改进...
邵康鹏潘伟伟郑勇军史峥严晓浪
文献传递
一种用于测试半导体生产工艺缺陷的测试芯片及制作方法
本发明公开了一种新型的用于半导体生产线工艺的测试芯片，包括：用于控制测试信号是否进入选中的测试单元的信号选择电路、用于选择测试单元的周围地址译码电路和用于测试生产工艺的缺陷的测试单元。本发明还公开了一种测试芯片的制作方法...
潘伟伟郑勇军马铁中史峥严晓浪
文献传递
纳米工艺集成电路可寻址测试芯片设计方法研究
测试芯片作为集成电路制造工艺提取工艺器件参数,评估工艺设备性能,制定版图设计规则,检测工艺缺陷以及评估产品可靠性的重要手段,对缩短工艺开发周期、提升成品率起着重要的作用。随着集成电路进入纳米工艺时代,复杂的制造工艺对测试...
潘伟伟
关键词：集成电路制造工艺成品率工艺波动可寻址
文献传递
一种放置在划片槽内的改进型可寻址测试芯片及制作方法
本发明公开了一种放置在划片槽内的改进型可寻址测试芯片，包括用于产生输出行列选信号的周围地址译码电路、若干用于控制测试信号进入测试结构的信号选择电路组和若干用于放置测试结构的测试单元。本发明还公开了一种放置在划片槽内的改进...
邵康鹏潘伟伟郑勇军史峥严晓浪
一种用于测试半导体生产工艺缺陷的测试芯片及制作方法
本发明公开了一种新型的用于半导体生产线工艺的测试芯片，包括：用于控制测试信号是否进入选中的测试单元的信号选择电路、用于选择测试单元的周围地址译码电路和用于测试生产工艺的缺陷的测试单元。本发明还公开了一种测试芯片的制作方法...
潘伟伟郑勇军马铁中史峥严晓浪
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